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龙图腾网获悉中国科学院地理科学与资源研究所;长光禹辰信息技术与装备(青岛)有限公司申请的专利光辐照度确定方法、装置、设备、修正方法及遥感系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116448237B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310213877.8，技术领域涉及：G01J1/00；该发明授权光辐照度确定方法、装置、设备、修正方法及遥感系统是由杨斌;孙志刚;张军强设计研发完成，并于2023-03-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本光辐照度确定方法、装置、设备、修正方法及遥感系统在说明书摘要公布了：本发明涉及光学测量技术领域，公开了一种下行光辐照度的确定方法、装置、设备、光学遥感数据的修正方法及光学遥感系统，下行光辐照度的确定方法应用于设置有下行光传感器的飞行设备，下行光辐照度的确定方法包括：预先创建下行光传感器的辐射响应值和对应的水平面总辐照度之间对应关系的辐射响应方程；辐射响应方程中辐射响应值等于下行光传感器分别对直射光的响应值和散射光的响应值的叠加；根据下行光传感器采集的当前辐射响应值和辐射响应方程，确定当前辐射响应值对应的下行光的当前水平面总辐照度。本申请中的辐射响应方程能够更准确的确定出下行光的水平面总辐照度，有利于以此对光学遥感数据进行辐射校正的准确性。

本发明授权光辐照度确定方法、装置、设备、修正方法及遥感系统在权利要求书中公布了：1.一种下行光辐照度的确定方法，其特征在于，应用于设置有下行光传感器的飞行设备，所述确定方法包括： 预先创建所述下行光传感器的辐射响应值和对应的水平面总辐照度之间对应关系的辐射响应方程；其中，所述辐射响应方程中的所述辐射响应值等于所述下行光传感器分别对直射光的响应值和散射光的响应值的叠加； 根据所述下行光传感器采集的当前辐射响应值和所述辐射响应方程，确定所述当前辐射响应值的采样时间点对应的下行光的当前水平面总辐照度； 所述辐射响应方程为；其中，为辐射响应值，为下行光垂直入射下行光传感器时的辐射响应系数；为所述辐射响应值的采样时间点对应的水平面总辐照度；为所述辐射响应值的采样时间点对应的下行光散射比；和分别为预先标定的直射光入射至所述下行光传感器的入射角为时，所述下行光传感器的直射光辐射响应因子和散射光辐射响应因子；为所述下行光传感器的探测面与水平面的夹角； 所述直射光辐射响应因子为；所述散射光辐射响应因子为；其中，为所述下行光传感器的探测面上的半球空间内的任意入射角；为预先标定的余弦辐射响应因子； 所述余弦辐射响应因子的标定过程包括： 创建所述下行光传感器的标定模型；其中和分别为同一直射光以入射角度和以垂直角度入射至所述下行光传感器的探测面时分别对应的第一辐射响应值和第二辐射响应值； 分别采集多组不同直射光入射角度下所述下行光传感器的第一辐射响应值以及各所述直射光对应的第二辐射响应值，并结合所述标定模型，对所述余弦辐射响应因子进行拟合标定。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院地理科学与资源研究所;长光禹辰信息技术与装备(青岛)有限公司，其通讯地址为：100000 北京市朝阳区大屯路甲11号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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