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飞测思凯浦(上海)半导体科技有限公司张鹏斌获国家专利权

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龙图腾网获悉飞测思凯浦(上海)半导体科技有限公司申请的专利一种成像调节装置和光学检测设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120314303B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510301736.0,技术领域涉及:G01N21/88;该发明授权一种成像调节装置和光学检测设备是由张鹏斌;王福旺;刘健鹏设计研发完成,并于2025-03-13向国家知识产权局提交的专利申请。

一种成像调节装置和光学检测设备在说明书摘要公布了:本申请涉及光学检测技术领域,具体涉及一种成像调节装置和光学检测设备,成像调节装置包括分光件、基座和设置在基座上的两个支撑件,各支撑件上均设置有图像采集单元,分光件具有接收第一路信号光并反射产生第一出射光的第一反射面和接收第二路信号光并反射产生第二出射光的第二反射面,两个图像采集单元分别获取第一出射光、第二出射光并对应成像,可通过共光路分视场的方式实现明场图像和暗场图像的同时采集;并且分光件和基座的相对位置可调,通过调节分光件和基座中的一者位置对两个图像采集单元的成像进行联动调整,以实现两个图像采集单元相对第一路信号光和第二路信号光位置的联动调整,如此能够提高光学检测设备的检测效率。

本发明授权一种成像调节装置和光学检测设备在权利要求书中公布了:1.一种成像调节装置,其特征在于,所述成像调节装置应用于光学检测设备中,包括: 分光件,具有不共面的第一反射面和第二反射面,所述第一反射面用于接收第一路信号光并反射产生第一出射光,所述第二反射面用于接收第二路信号光并反射产生第二出射光;所述第一路信号光由光学检测设备中的明场光源产生,所述第二路信号光由光学检测设备中的暗场光源产生; 基座和设置在所述基座上的两个支撑件,两个所述支撑件上分别设有第一图像采集单元和第二图像采集单元;所述第一图像采集单元、所述第二图像采集单元分别用于获取所述第一出射光、所述第二出射光并对应成像; 所述基座环绕所述分光件布置,所述基座和所述分光件中一者用于固定在光学检测设备的设备主体上,另一者可相对所述设备主体在所述第一路信号光的光轴和所述第一出射光的光轴所在平面内移动,或者在垂直所述第一路信号光光轴和所述第一出射光光轴的方向上移动,以实现所述分光件和所述基座的相对位置可调,通过调节所述分光件和所述基座中的一者位置对所述第一图像采集单元和所述第二图像采集单元的成像进行联动调整。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人飞测思凯浦(上海)半导体科技有限公司,其通讯地址为:200000 上海市浦东新区秀浦路2388号10幢3层;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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