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中国科学院上海技术物理研究所王跃明获国家专利权

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龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利基于双面阵可见光探测器的图像采集方法及成像系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120321518B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510523824.5,技术领域涉及:H04N23/951;该发明授权基于双面阵可见光探测器的图像采集方法及成像系统是由王跃明;冯浩洋;何道刚设计研发完成,并于2025-04-24向国家知识产权局提交的专利申请。

基于双面阵可见光探测器的图像采集方法及成像系统在说明书摘要公布了:本发明涉及图像处理领域,提供一种基于双面阵可见光探测器的图像采集方法及成像系统,方法包括:确定双面阵可见光探测器的第一半区的第一帧有效信号,以及确定第二半区的第二帧有效信号;对第二帧有效信号进行整形后,对第一帧有效信号和第二帧有效信号进行或运算确定第三帧有效信号,第三帧有效信号在第一半区的暗行读出时置为高电平,在第二半区的有效行读出完成后置为低电平;基于第三帧有效信号,控制双面阵可见光探测器进行图像采集。用以解决相关技术中的应用双面阵可见光探测器进行图像采集时不能满足实时性要求的缺陷,本申请的方案中通过将探测器的两个分区各自的帧有效信号进行整合,实现了两个半区的图像同时曝光,满足实时性要求。

本发明授权基于双面阵可见光探测器的图像采集方法及成像系统在权利要求书中公布了:1.基于双面阵可见光探测器的图像采集方法,其特征在于,包括: 确定双面阵可见光探测器的第一半区的第一帧有效信号,以及确定第二半区的第二帧有效信号; 对所述第二帧有效信号进行整形后,对所述第一帧有效信号和所述第二帧有效信号进行或运算确定第三帧有效信号,所述第三帧有效信号在所述第一半区的暗行读出时置为高电平,在所述第二半区的有效行读出完成后置为低电平; 基于所述第三帧有效信号,控制双面阵可见光探测器进行图像采集; 其中,对所述第二帧有效信号进行整形,包括: 在所述第二帧有效信号的上升沿开始时进行暗行计数,并将待整形的第二帧有效信号置于低电平; 在图像采集时,将待整形的第二帧有效信号置于高电平; 所述在所述第二帧有效信号的上升沿开始时进行暗行计数,包括: 计算第一半区的有效图像行数以及第一半区的无效行行数; 基于第一半区的有效图像行数以及第一半区的无效行行数,确定第二半区的第二无效行行数; 获取所述双面阵可见光探测器的第二半区的最大暗行行数; 基于所述最大暗行行数与所述第二无效行行数的大小关系,对第二半区的第二暗行进行修改; 基于修改后的第二暗行进行暗行计数; 所述基于所述最大暗行行数与所述第二无效行行数的大小关系,对第二半区的第二暗行进行修改,包括: 若所述第二无效行行数大于所述第二半区的最大暗行行数,将所述第二暗行修改为最大暗行行数; 若所述第二无效行行数小于或者等于所述第二半区的最大暗行行数,将所述第二暗行修改为所述第二无效行行数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院上海技术物理研究所,其通讯地址为:200083 上海市虹口区中山北一路420号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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