嘉兴阿特斯技术研究院有限公司张强获国家专利权
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龙图腾网获悉嘉兴阿特斯技术研究院有限公司申请的专利电池结构、电池单体及光伏系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120358803B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510862576.7,技术领域涉及:H10F10/166;该发明授权电池结构、电池单体及光伏系统是由张强;李硕设计研发完成,并于2025-06-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本电池结构、电池单体及光伏系统在说明书摘要公布了:本申请公开了一种电池结构、电池单体及光伏系统,属于电池技术领域。电池结构包括:硅基体,具有沿第一方向相对设置的正面和背面;在远离硅基体的方向上,依次层叠于硅基体的正面的第一本征非晶硅层、晶硅层和第一微晶硅层,晶硅层和第一微晶硅层具有第一掺杂类型,晶硅层含有氢元素和氧元素;在远离硅基体的方向上,依次层叠于硅基体的背面的第二本征非晶硅层和第二微晶硅层,第二微晶硅层具有第二掺杂类型;其中,晶硅层的厚度小于第一微晶硅层的厚度,第一掺杂类型和第二掺杂类型相反。通过在非晶硅层和微晶硅层之间沉积晶硅层,使微晶硅层具有更高的晶化率和透光性,同时缩短工艺时长,也不会对非晶硅层造成刻蚀作用。
本发明授权电池结构、电池单体及光伏系统在权利要求书中公布了:1.一种电池结构,其特征在于,包括: 硅基体,具有沿第一方向相对设置的正面和背面; 在远离所述硅基体的方向上,依次层叠于所述硅基体的所述正面的第一本征非晶硅层、晶硅层和第一微晶硅层,所述晶硅层和所述第一微晶硅层具有第一掺杂类型,所述晶硅层含有氢元素和氧元素,所述晶硅层中氧掺杂浓度大于氢掺杂浓度,所述晶硅层的氧掺杂浓度为1*1021cm-3-1*1023cm-3,所述晶硅层的厚度为0.5nm~1nm,所述第一微晶硅层的氧掺杂浓度为1*1017cm-3-1*1018cm-3; 在远离所述硅基体的方向上,依次层叠于所述硅基体的所述背面的第二本征非晶硅层和第二微晶硅层,所述第二微晶硅层具有第二掺杂类型; 其中,所述晶硅层的厚度小于所述第一微晶硅层的厚度,所述第一掺杂类型和所述第二掺杂类型相反。
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