广州市世赞防伪技术开发有限公司樊业成获国家专利权
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龙图腾网获悉广州市世赞防伪技术开发有限公司申请的专利一种基于图像处理的标签缺陷检测系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120672671B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510692673.6，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于图像处理的标签缺陷检测系统及方法是由樊业成;刁文欢;黄锦;陈志鹏设计研发完成，并于2025-05-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于图像处理的标签缺陷检测系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于图像处理的标签缺陷检测系统及方法，涉及数据处理技术领域，系统包括：图像校正模块，用于通过非线性补偿模型得到光照校正后的校正后图像；特征图模块，用于生成多尺度特征图；阈值确定模块，用于计算得到空间自适应的自适应局部阈值；图像增强模块，用于根据自适应局部阈值对多尺度特征图进行残差计算与微分运算，得到非线性增强后的增强特征图；缺陷评分模块，用于根据增强特征图，通过多层次融合原始增强特征、空间加权特征及形态学特征，生成缺陷评分图；缺陷检测模块，用于根据缺陷评分图计算标签图像的缺陷评分，并通过缺陷评分与预设阈值的比较结果检测标签图像的缺陷。本系统能够提升标签缺陷检测的精度。
本发明授权一种基于图像处理的标签缺陷检测系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于图像处理的标签缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括： 图像校正模块，用于根据原始输入的标签图像的局部亮度分布与全局统计参数，通过非线性补偿模型得到光照校正后的校正后图像； 特征图模块，用于根据所述校正后图像，采用多尺度卷积核组进行特征提取，生成多尺度特征图； 阈值确定模块，用于根据所述多尺度特征图结合像素点的局部区域均值、标准差，计算得到空间自适应的自适应局部阈值； 图像增强模块，用于根据所述自适应局部阈值对所述多尺度特征图进行残差计算与微分运算，得到非线性增强后的增强特征图； 缺陷评分模块，用于根据所述增强特征图，通过多层次融合原始增强特征、空间加权特征及形态学特征，生成缺陷评分图； 缺陷检测模块，用于根据所述缺陷评分图计算所述标签图像的缺陷评分，并通过所述缺陷评分与预设阈值的比较结果检测所述标签图像的缺陷。
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