合肥埃科光电科技股份有限公司曹桂平获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥埃科光电科技股份有限公司申请的专利一种自动对焦方法、系统及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120812398B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511271877.9，技术领域涉及：H04N23/67；该发明授权一种自动对焦方法、系统及存储介质是由曹桂平;邵云峰;张伟雄;唐俊峰;张恩慧;王雪;董宁设计研发完成，并于2025-09-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种自动对焦方法、系统及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种自动对焦方法、系统及存储介质，其中，自动对焦方法包括：依次提取两个反射率区域中有且只有一个不同反射率区域的灰度值满足筛选条件下的两个光斑图像；二值化处理，并融合处理二值化后的第一光斑图像和第二光斑图像，形成二值化光斑图像，以区分融合后的光斑图像中的两个反射率区域；计算二值化光斑图像的像素列方向上的数值，并区分像素行方向上两个反射率区域所对应的分段数，基于两个反射率区域所对应的高度差，计算待测物表面任一反射率区域的离焦量。本发明能够实现不同反射率区域的清晰成像，根据高度差对离焦量进行校正，在满足存在高度差的两个反射率的不同采图需求下，提高了对焦量计算的准确性。
本发明授权一种自动对焦方法、系统及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种自动对焦方法，其特征在于，获得待测物表面两个具有反射率差异的反射率区域间的高度差；所述方法，在显微物镜处于同一高度下，包括： 调整曝光时间、激光能量或增益，以使图像传感器采集两个反射率区域中有且只有一个不同反射率区域的灰度值满足筛选条件下的光斑图像，分别获得第一光斑图像和第二光斑图像，所述筛选条件为反射率区域内灰度值大于第二灰度阈值，且小于第一灰度阈值； 二值化处理，并融合处理二值化后的第一光斑图像和第二光斑图像，形成二值化光斑图像，以区分融合后的光斑图像中的两个反射率区域； 基于像素行宽度，对像素行进行划分，划分成若干分段，计算所述二值化光斑图像的像素列方向上的数值，并区分像素行方向上两个反射率区域所对应的分段数，基于两个反射率区域所对应的高度差以及两个反射率区域所对应的分段数，计算待测物表面任一反射率区域的离焦量。
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