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龙图腾网获悉芯耀辉科技股份有限公司申请的专利对寄存器传输级代码进行检测的方法、电子设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120822473B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511324674.1，技术领域涉及：G06F30/33；该发明授权对寄存器传输级代码进行检测的方法、电子设备及介质是由孙剑伟设计研发完成，并于2025-09-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本对寄存器传输级代码进行检测的方法、电子设备及介质在说明书摘要公布了：本申请涉及计算机技术领域并提供一种对寄存器传输级代码进行检测的方法、电子设备及介质。方法包括：根据代码成熟度指标，确定第一寄存器传输级代码的代码成熟度；基于多个芯片开发阶段各自对应的代码成熟度，确定第一寄存器传输级代码相匹配的第一芯片开发阶段；当第一芯片开发阶段是验收阶段时，通过综合验证工具，按照综合验证工具自带的质量检测项目，进行前端设计流程的质量检测；当第一芯片开发阶段不是验收阶段时，按照配置环境输入来配置综合验证工具得到已配置综合验证工具，然后，通过已配置综合验证工具，按照快速质量检测项目集合所包括的质量检测项目，进行前端设计流程的质量检测。如此，确保正确性以及提高迭代效率。

本发明授权对寄存器传输级代码进行检测的方法、电子设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种对寄存器传输级代码进行检测的方法，其特征在于，所述方法包括： 根据代码成熟度指标，确定第一寄存器传输级代码的代码成熟度； 基于多个芯片开发阶段各自对应的代码成熟度，确定所述多个芯片开发阶段中所述第一寄存器传输级代码相匹配的第一芯片开发阶段，其中，所述多个芯片开发阶段至少包括试运行阶段、验收前阶段和验收阶段，其中，所述验收阶段对应的代码成熟度是百分之一百； 当所述第一芯片开发阶段是所述验收阶段时，通过综合验证工具，按照所述综合验证工具自带的质量检测项目，对所述第一寄存器传输级代码进行前端设计流程的质量检测； 当所述第一芯片开发阶段不是所述验收阶段时，按照配置环境输入来配置所述综合验证工具得到已配置综合验证工具，然后，通过所述已配置综合验证工具，按照快速质量检测项目集合所包括的质量检测项目，对所述第一寄存器传输级代码进行所述前端设计流程的质量检测，其中，所述配置环境输入是基于所述第一寄存器传输级代码而确定的，所述快速质量检测项目集合是对所述综合验证工具自带的质量检测项目中的第一类质量检测项目进行删减操作和第二类质量检测项目进行提取操作得到的，所述第一类质量检测项目与后端设计流程之间的关联性低于所述第二类质量检测项目与所述后端设计流程之间的关联性， 所述第一类质量检测项目的失败结果不阻塞所述后端设计流程的执行，所述第二类质量检测项目的失败结果阻塞所述后端设计流程的执行。

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