中国标准化研究院王淑敏获国家专利权
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龙图腾网获悉中国标准化研究院申请的专利一种基于大模型的Mini/MicroLED产业链质量状况监测方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120832492B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511316014.9,技术领域涉及:G06F18/20;该发明授权一种基于大模型的Mini/MicroLED产业链质量状况监测方法及系统是由王淑敏;王双;隋媛;张莺;程越设计研发完成,并于2025-09-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于大模型的Mini/MicroLED产业链质量状况监测方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于大模型的MiniMicroLED产业链质量状况监测方法及系统,涉及工业大数据技术领域,首先通过多源传感器网络和自动化检测设备采集产业链各环节的历史生产环境数据,然后利用时序特征提取算法和关联分析算法提取环节内特征和环节间关联特征,接着基于深度学习技术和图神经网络构建质量评估模型,实时监测产业链各环节的质量状态,当检测到质量异常时,通过环节关联追溯算法识别质量异常环节和环节间质量传递路径,最后根据质量异常溯源信息,通过环节协同优化算法生成质量提升方案。提高了质量异常溯源的效率。
本发明授权一种基于大模型的Mini/MicroLED产业链质量状况监测方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种基于大模型的MiniMicroLED产业链质量状况监测方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤一、获取产业链各环节历史生产环境数据,所述产业链各环节包括芯片制备环节、巨量转移环节、驱动集成环节和封装环节; 步骤二、对所述历史生产环境数据进行质量特征提取,得到所述历史生产环境数据的质量特征,所述质量特征包括环节内特征和环节间关联特征; 所述环节间关联特征的提取方式为: 通过关联分析算法提取所述历史生产环境数据的环节间关联特征,包括时序关联特征、因果关联特征和质量传递特征; 所述关联分析算法首先构建环节间参数的时间对齐矩阵,基于产品批次号和时间戳将不同环节的数据进行匹配;然后,所述关联分析算法计算时序关联特征,采用互相关函数分析不同环节参数之间的时间滞后关系,计算Pearson相关系数、Spearman秩相关系数和互信息值量化参数间的关联强度;提取因果关联特征,采用Granger因果检验和传递熵方法识别环节间的因果关系方向和强度;识别质量传递特征,通过追踪质量指标在环节间的变化规律,建立质量传递矩阵,量化上游环节参数变化对下游环节质量指标的影响程度;所述关联分析算法对所有环节对之间的关键参数进行两两分析,形成环节间关联特征矩阵; 步骤三、基于所述质量特征构建质量评估模型,所述质量评估模型包括环节质量评估子模型和环节关联评估子模型;所述环节关联评估子模型通过图神经网络技术构建,用于评估环节间的质量关联状态; 步骤四、使用所述质量评估模型对所述产业链各环节的实时生产数据进行实时监测,得到质量监测结果; 步骤五、判断所述质量监测结果是否满足预设质量阈值条件; 步骤六、若所述质量监测结果不满足所述预设质量阈值条件,则通过环节关联追溯算法分析所述质量监测结果,识别质量异常环节和环节间质量传递路径,得到质量异常溯源信息; 步骤七、根据所述质量异常溯源信息,通过环节协同优化算法生成质量提升方案,所述质量提升方案包括环节内优化措施和环节间协同优化措施。
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