成都融见软件科技有限公司;上海合见工业软件集团有限公司刘毅获国家专利权
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龙图腾网获悉成都融见软件科技有限公司;上海合见工业软件集团有限公司申请的专利一种基于局部共享期望数据比较器的芯片测试系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120950319B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511485244.8,技术领域涉及:G06F11/22;该发明授权一种基于局部共享期望数据比较器的芯片测试系统是由刘毅;汪东博;常晶舒;阎亚茹设计研发完成,并于2025-10-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于局部共享期望数据比较器的芯片测试系统在说明书摘要公布了:本申请涉及集成电路设计技术领域,特别是涉及一种基于局部共享期望数据比较器的芯片测试系统,该系统将芯片的存储器划分为多个存储器组,单个存储器组中的存储器共享一个共享比较器,相较于每个存储器配置对应的比较器,有效减少了比较器的总数量,降低芯片的面积开销,相较于所有存储器共享控制器侧的同一比较器,共享比较器设置于存储器组侧,存储器与对应共享比较器的数据路径较短,避免系统时序收敛困难,并减少控制器附近的布线密集程度,避免了布局布线阻塞。
本发明授权一种基于局部共享期望数据比较器的芯片测试系统在权利要求书中公布了:1.一种基于局部共享期望数据比较器的芯片测试系统,其特征在于,所述系统包括芯片,所述芯片包括控制器、M个存储器组、M个存储器组分别对应的共享比较器和每个存储器分别对应的接口交互模块,所述存储器组包括若干个相同时钟源的存储器; 所述接口交互模块用于向对应存储器发送测试数据; 所述存储器用于根据接收的测试数据进行存储器测试,将测试数据对应的实际测试结果输出到对应的接口交互模块; 所述接口交互模块还用于接收所述测试数据对应的实际测试结果,将所述测试数据对应的实际测试结果和所述测试数据对应的期望测试结果发送给对应存储器所属存储器组对应的共享比较器; 所述共享比较器用于根据所述测试数据对应的实际测试结果和期望测试结果,确定数据比较结果,将所述数据比较结果发送给所述控制器。
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