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龙图腾网获悉上海概伦电子股份有限公司申请的专利集成电路器件模型提取参数的数据选取方法、系统及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114896943B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210476110.X，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权集成电路器件模型提取参数的数据选取方法、系统及装置是由石凯;梁汉成设计研发完成，并于2022-04-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本集成电路器件模型提取参数的数据选取方法、系统及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了集成电路器件模型提取参数的数据选取方法、系统及装置，该方法中，接收集成电路器件的测试数据集，配置至少三种不同的筛选条件，且对各筛选条件设置若干偏置属性；将筛选条件以及偏置属性以标签形式填入，以生成映射表单；根据筛选条件对若干测试数据进行一次固定筛选分类后，再利用偏置属性进行二次自定义筛选，将筛选结果映射到映射表单的对应标签下，构建不同筛选结果中自定义测试数据的关联关系，并以集合形式存储每次筛选的自定义测试数据；对集成电路器件的器件模型进行拟合以进行条件实例化，调整偏置属性，实现数据的选择目的。本发明实现了偏置数据的灵活选取，并且不额外增加流程设置复杂度。

本发明授权集成电路器件模型提取参数的数据选取方法、系统及装置在权利要求书中公布了：1.一种集成电路器件模型提取参数的数据选取方法，其特征在于，所述方法包括： 接收所述集成电路器件的测试数据集，所述测试数据集中包括不同测试条件下对所述集成电路器件测试得到的若干种测试数据； 响应于可视化操作界面中配置有用户自定义条件筛选设置界面，通过所述条件筛选设置界面配置至少三种不同的筛选条件，且对各所述筛选条件设置若干偏置属性；将所述筛选条件以及所述偏置属性以标签形式填入，以生成映射表单； 响应于预先配置有数据库，在获取所述测试数据后，根据所述筛选条件对所述若干测试数据进行一次固定筛选分类后，再利用所述偏置属性进行二次自定义筛选，将筛选结果映射到所述映射表单的对应标签下，构建不同筛选结果中自定义测试数据的关联关系，并以集合形式存储每次筛选的自定义测试数据； 利用自定义测试数据集对所述集成电路器件的器件模型进行拟合，根据所述关联关系进行所述自定义测试数据的条件实例化，通过调整所述偏置属性，实现对所述自定义测试数据的选择目的； 所述筛选条件以及所述偏置属性以标签形式填入生成映射表单后，形成基于用户输入设置或选择的偏置属性的条件变量生成一个偏置选取模板，以便在进行所述自定义测试数据的条件实例化时，自定义调整所述偏置属性； 在进行所述器件模型的拟合时，所述器件模型在所述可视化操作界面中映射出任意两种筛选后的自定义测试数据集的二维拟合，以及三种及以上筛选后的自定义测试数据集的三维拟合。

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