堀场(法国)有限公司塞巴斯蒂安·莱登获国家专利权
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龙图腾网获悉堀场(法国)有限公司申请的专利获取和形成光谱测定图像的方法和光谱测定装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115349078B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180024501.1，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权获取和形成光谱测定图像的方法和光谱测定装置是由塞巴斯蒂安·莱登;亚历山大·科科塔设计研发完成，并于2021-02-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本获取和形成光谱测定图像的方法和光谱测定装置在说明书摘要公布了：本发明涉及一种获取和形成样品1的光谱测定图像IS的方法，包括以下步骤：e1获取样品的区域的初始图像II，初始图像由像素组成，并定义N个光谱测定测量位置PM的最大集合，2≤N，每个测量位置包括坐标CX；CY和基于像素确定的强度IR1；IR2；IG1；IG2；IB1；IB2；e2基于根据测量位置之间的强度差和坐标差计算的偏差，为N个测量位置中的每一个分配分类值；e3根据分类值确定一组P个测量位置，1≤P≤N；e4对于该组的每个测量位置，依次在样品的区域的所述测量位置定位激发光束2，获取光谱测定测量并形成光谱测定图像。
本发明授权获取和形成光谱测定图像的方法和光谱测定装置在权利要求书中公布了：1.一种获取并形成样品的光谱测定图像的方法，包括以下步骤： e1获取所述样品的区域的初始图像，并定义N个光谱测定测量位置的最大集合，所述初始图像由像素组成，2≤N，每个测量位置包括至少一个坐标和至少一个强度，所述坐标表示相对于所述样品的所述区域的测量位置，所述强度基于所述初始图像的位于所述测量位置的邻域的至少一个像素确定； e2基于所述测量位置之间的偏差，为N个所述测量位置中的每一者分配分类值，两个测量位置之间的偏差是基于强度差和坐标差计算的； e3根据步骤e2中分配的分类值，在N个测量位置的集合中确定一组P个测量位置，1≤P≤N； e4对于步骤e3中确定的组中的每个测量位置，依次在所述样品的所述区域上的所述测量位置定位激发光束，获取光谱测定测量，并基于所获取的所述光谱测定测量构建所述光谱测定图像； 其中，在所述步骤e2中，分配的所述分类值都是彼此不同的。
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