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龙图腾网获悉奥蒂玛光学科技(深圳)有限公司申请的专利缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115524347B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211006082.1，技术领域涉及：G01N21/956；该发明授权缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质是由原进良;曹沿松;纪其乐设计研发完成，并于2022-08-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质，该缺陷检测方法包括：获取待检测电路板的缺陷数据；采集所述待检测电路板的定位图像，并根据所述定位图像确定所述待检测电路板上基准的当前位置数据，其中所述定位图像包括所述基准的图像；基于所述缺陷数据和所述基准的当前位置数据，对所述待检测电路板的缺陷区域进行图像采集，以获取与所述缺陷数据对应的缺陷图像。通过本申请的方法，能够根据AOI检测时的检测数据重新采集待检测电路板的缺陷图像，以能够根据单个缺陷区域的图像进行复检，提高缺陷检测的精度。

本发明授权缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种缺陷检测方法，其特征在于，应用于一种缺陷检测装置，所述缺陷检测方法包括：获取待检测电路板的缺陷数据； 采集所述待检测电路板的定位图像，并根据所述定位图像确定所述待检测电路板上基准的当前位置数据，其中所述定位图像包括所述基准的图像； 基于所述缺陷数据和所述基准的当前位置数据，对所述待检测电路板的缺陷区域进行图像采集，以获取与所述缺陷数据对应的缺陷图像； 其中，所述缺陷数据包括AOI检测系统输出的待检测电路板图像上各个缺陷相对所述基准的第一位置数据，以及所述第一位置数据与所述待检测电路板的映射关系； 所述基于所述缺陷数据和所述基准的当前位置数据，对所述待检测电路板的缺陷区域进行图像采集的步骤，包括： 根据所述第一位置数据与所述映射关系，计算所述待检测电路板上各个所述缺陷相对所述基准的第二位置数据； 根据所述基准的当前位置数据及所述第二位置数据，获取各个缺陷的当前位置数据； 基于所述各个缺陷的当前位置数据，对所述待检测电路板的缺陷区域进行图像采集。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人奥蒂玛光学科技(深圳)有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区黄阁北路449号龙岗天安数码创新园三号厂房B901；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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