中国原子能科学研究院郭庐阵获国家专利权
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龙图腾网获悉中国原子能科学研究院申请的专利一种探测装置及探测系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119805525B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411942893.1，技术领域涉及：G01T1/00；该发明授权一种探测装置及探测系统是由郭庐阵;汪传高;邬蒙蒙;郭金森;吕天林;庞洪超;骆志平设计研发完成，并于2024-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种探测装置及探测系统在说明书摘要公布了：本申请涉及核素探测技术领域，提供一种探测装置及探测系统，探测装置包括多个氙吸附盒和换样组件，多个氙吸附盒均设置于换样组件，换样组件具有取样工位、测量工位和活化工位，换样组件用于驱动多个氙吸附盒运动，使得取样工位、测量工位和活化工位分别具有一个氙吸附盒。本申请实施例提供的探测装置，能够实现对放射性氙的不间断连续测量，缩短测量时间周期，提高放射性氙测量效率。
本发明授权一种探测装置及探测系统在权利要求书中公布了：1.一种探测装置，其特征在于，包括： 多个氙吸附盒； 换样组件，多个所述氙吸附盒均设置于所述换样组件，所述换样组件具有取样工位、测量工位和活化工位，所述换样组件用于驱动多个所述氙吸附盒运动，使得所述取样工位、所述测量工位和所述活化工位分别具有一个所述氙吸附盒； 所述氙吸附盒包括外盒和分隔件，所述外盒形成有吸附腔、进气口和出气口，所述分隔件设置于所述吸附腔内，以将所述吸附腔分隔出第一吸附室、多个第二吸附室和出气室； 所述第一吸附室、所述第二吸附室和所述出气室内均设置有吸附材料，所述进气口与所述第一吸附室连通，多个所述第二吸附室依次连通，所述第一吸附室与首端的所述第二吸附室连通，所述出气室与尾端的所述第二吸附室连通，所述出气口与所述出气室连通； 所述分隔件包括中心筒、第一隔板和多个第二隔板，所述第一隔板和多个所述第二隔板沿周向间隔设置于所述中心筒，所述中心筒内的空间为所述出气室，所述第一隔板和其中一个所述第二隔板之间的空间为所述第一吸附室，相邻的两个所述第二隔板之间的空间为所述第二吸附室； 所述第二隔板形成有过流孔，所述过流孔连通相邻两个所述第二吸附室，相邻两个所述第二隔板的过流孔错位。
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