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龙图腾网获悉成都海光集成电路设计有限公司申请的专利存储器故障区域的识别方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114300030B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111615647.1，技术领域涉及：G11C29/00；该发明授权存储器故障区域的识别方法、装置、电子设备及存储介质是由黄炜;李鹏;钟雨阳;李阳;蔡庆瑶;张攀勇设计研发完成，并于2021-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本存储器故障区域的识别方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供一种存储器故障区域的识别方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括：检查系统中当前的存储器配置情况与上次运行时的存储器配置情况相比是否发生变化；如果所述当前的存储器配置情况未发生变化，则获取系统的当前可疑存储器区域列表，所述当前可疑存储器区域列表记载有当前可疑存储器区域的故障地址；根据所述当前可疑存储器区域列表，将对应的存储器区域进行屏蔽处理。本发明通过屏蔽故障内存区域，隔绝系统对故障内存区域的使用，有效提高了系统的可靠性。

本发明授权存储器故障区域的识别方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种存储器故障区域的识别方法，其特征在于，包括： 检查系统中当前的存储器配置情况与上次运行时的存储器配置情况相比是否发生变化； 如果所述当前的存储器配置情况未发生变化，则获取系统的当前可疑存储器区域列表，所述当前可疑存储器区域列表记载有当前可疑存储器区域的故障地址；根据所述当前可疑存储器区域列表，将对应的存储器区域进行屏蔽处理； 如果所述当前的存储器配置情况发生变化，则将所述当前可疑存储器区域列表清空；监测所述存储器的读写错误情况；基于所述存储器的读写错误情况，根据故障判定策略判断，检测出新增的可疑存储器区域；解析新增的可疑存储器区域对应的故障地址；基于所述新增的可疑存储器区域对应的故障地址，划定待屏蔽区域；根据所述待屏蔽区域，更新所述当前可疑存储器区域列表；根据所述当前可疑存储器区域列表，将对应的存储器区域进行屏蔽处理； 所述解析新增的可疑存储器区域对应的故障地址的步骤具体为：根据当前的存储器交织类型，解析新增的可疑存储器区域对应的故障地址，具体为： 若当前系统为封装单元交织SocketInterleave类型，在整个系统地址上，将内存以交织尺寸InterleaveSize作为颗粒度和地址对齐规则，分别按照封装单元Socket封装前的单芯片Die通道Channel为索引，交错映射到各个内存Channel上； 若当前系统为封装前的单芯片交织DieInterleave类型，在整个系统地址上，将内存以Socket为索引顺序叠加，在同Socket内存范围内，内存以InterleaveSize作为颗粒度和地址对齐规则，分别按照Die和Channel为索引，交错映射到各个内存Channel上； 若当前系统为通道交织ChannelInterleave类型，在整个系统地址上，将内存分别以SocketDie为索引顺序叠加，在同Die内存范围内，将内存以InterleaveSize作为颗粒度和地址对齐规则，按照Channel为索引，交错映射到各个内存Channel上； 若当前系统为非内存交织Non-Interleave类型，在整个系统地址上，将内存分别以SocketDieChannel为索引顺序叠加。

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