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龙图腾网获悉前海晶云(深圳)存储技术有限公司申请的专利半导体芯片测试方法、测试系统、计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114823402B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210203281.5，技术领域涉及：H10P74/20；该发明授权半导体芯片测试方法、测试系统、计算机可读存储介质是由王树锋;陈阳设计研发完成，并于2022-03-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本半导体芯片测试方法、测试系统、计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请涉及半导体芯片测试技术领域，公开了一种半导体芯片测试方法、测试系统、计算机可读存储介质。半导体芯片测试方法应用于测试系统，包括：检测半导体芯片是否工作；若是，则获取半导体芯片的存储空间；根据存储空间将半导体芯片的物理地址划分为多个块；分别对每个块的功能进行测试，获取功能正常的块的第一数量；基于第一数量和半导体芯片的所有块的总数量，得到与半导体芯片对应的标识。根据存储空间和物理地址对半导体芯片进行分块，对每一块进行测试，测试结果以比例的形式标识出来，能够直观的得到每个半导体芯片的性能高低，方便客户进行选择。用户根据需要选择对应性能高低的产品，提高用户满意度，提高半导体器件利用率。

本发明授权半导体芯片测试方法、测试系统、计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种半导体芯片测试方法，其特征在于，应用于测试系统，所述测试系统包括坏料区和测试板，所述测试板存储有预设程序，所述方法包括： 检测所述半导体芯片是否工作； 若是，则获取所述半导体芯片的存储空间； 根据所述存储空间将所述半导体芯片的物理地址划分为多个块； 分别对每个所述块的功能进行测试，获取功能正常的所述块的第一数量； 基于所述第一数量和所述半导体芯片的所有块的总数量，得到与所述半导体芯片对应的标识；所述标识被配置为表示所述半导体芯片的性能高低； 将所述半导体芯片运输至于所述标识对应的存放区域，以实现对所述半导体芯片的分类；其中，不同标识对应不同的存放区域； 其中，所述检测所述半导体芯片是否工作包括：对所述半导体芯片进行电流短路测试，得到电流数据； 判断所述电流数据是否在预设电流数据范围内； 若否，则将所述半导体芯片运输到所述坏料区；其中，所述坏料区用于存放无法正常工作的半导体芯片； 若是，则控制所述测试板给所述半导体芯片上电，判断所述测试板和所述半导体芯片是否运行所述预设程序，以确定所述半导体芯片是否能够与特定主控程序兼容； 若否，则将所述半导体芯片运输到所述坏料区； 其中，所述方法还包括： 将不能运行所述预设程序的半导体芯片运输至一个额外的待测区，并在测试完所有所述半导体芯片后，再执行所述检测所述半导体芯片是否工作的步骤； 其中，所述判断所述测试板和所述半导体芯片是否运行所述预设程序之后还包括： 若是，读取所述半导体芯片的出厂值； 若所述出厂值显示所述半导体芯片为不合格，则将所述半导体芯片运输到所述坏料区。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人前海晶云(深圳)存储技术有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司)；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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