清华大学尹斓获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉清华大学申请的专利一种能够快速失效的电子器件以及使该电子器件失效的方法、瞬态电子器件获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115223953B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110412252.5，技术领域涉及：H10W42/40；该发明授权一种能够快速失效的电子器件以及使该电子器件失效的方法、瞬态电子器件是由尹斓;刘胜楠;戴凡淇设计研发完成，并于2021-04-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种能够快速失效的电子器件以及使该电子器件失效的方法、瞬态电子器件在说明书摘要公布了：本发明涉及一种能够快速失效的电子器件以及使该电子器件失效的方法、瞬态电子器件。本发明的能够快速失效的电子器件，包含基板、Si基器件和Li功能层，所述Si基器件位于所述基板上，所述Li功能层位于所述Si基器件上。本发明的能够快速失效的电子器件在触发后能够实现物理状态和化学性质的同时改变，具有破坏完全、控制精准、稳定性高等特点。本发明的使电子器件失效的方法具有触发速度快，操作便捷，精准可控。同时，激光触发的方式，可以实现瞬态电子器件降解的无线化、一体化和小型化。
本发明授权一种能够快速失效的电子器件以及使该电子器件失效的方法、瞬态电子器件在权利要求书中公布了：1.一种瞬态电子器件，其特征在于，包括红外激光源以及能够快速失效的电子器件，所述能够快速失效的电子器件包含基板、Si基器件和Li功能层， 所述Si基器件位于所述基板上， 所述Li功能层位于所述Si基器件上， 其中，Li功能层能够在受到红外激光源的照射后，达到Li熔化所需的温度，Li的熔化相变加剧了Si基器件内的进一步Li化，出现越来越多的Li快速通道，加速Li的嵌入和应力积累，最终导致Si基器件的开裂。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人清华大学，其通讯地址为：100084 北京市海淀区清华园1号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励