上海艾为电子技术股份有限公司刘业凡获国家专利权
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龙图腾网获悉上海艾为电子技术股份有限公司申请的专利一种电容检测方法及电容检测装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115542015B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211165277.0，技术领域涉及：G01R27/26；该发明授权一种电容检测方法及电容检测装置是由刘业凡;郭辉;张忠;程涛;谢伟军设计研发完成，并于2022-09-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种电容检测方法及电容检测装置在说明书摘要公布了：本申请涉及触摸检测领域，公开了一种电容检测方法及装置，其中检测方法包括：获取待测电容的测量值，当待测电容的测量值处于稳定状态时，获取参考电容的测量值，并确定第一参考补偿系数，根据参考电容的测量值和第一参考补偿系数确定第一参考补偿值；获取基准有效测量值和待测电容的目标电容值，根据基准有效测量值和待测电容的目标电容值确定第二参考补偿值；基于第一参考补偿值和第二参考补偿值对待测电容的测量值进行补偿，获得待测电容的有效测量值。本申请通过第一参考补偿值和第二参考补偿值共同进行补偿，可实现更为准确的补偿效果。
本发明授权一种电容检测方法及电容检测装置在权利要求书中公布了：1.一种电容检测方法，其特征在于，包括： 获取待测电容的测量值； 当所述待测电容的测量值处于稳定状态时，获取参考电容的测量值，并确定第一参考补偿系数，根据所述参考电容的测量值和所述第一参考补偿系数确定第一参考补偿值，其中，所述第一参考补偿系数是根据所述参考电容的测量值和第一基准补偿系数确定的，所述第一基准补偿系数为上一时刻所对应的参考补偿系数； 获取基准有效测量值和所述待测电容的目标电容值，根据所述基准有效测量值和所述待测电容的目标电容值确定第二参考补偿值，其中，所述基准有效测量值表示上一时刻的待测电容的有效测量值，所述目标电容值是在所述待测电容的测量值处于所述稳定状态时确定的； 基于所述第一参考补偿值和所述第二参考补偿值对所述待测电容的测量值进行补偿，获得所述待测电容当前时刻的有效测量值。
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