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龙图腾网获悉西南大学申请的专利一种测定微纳米颗粒表面电荷密度的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115656266B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211371075.1，技术领域涉及：G01N27/00；该发明授权一种测定微纳米颗粒表面电荷密度的方法是由刘新敏;李航;田锐;唐颖;李睿;王琳设计研发完成，并于2022-11-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测定微纳米颗粒表面电荷密度的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种测定微纳米颗粒表面电荷密度的方法，该方法首先利用光散射技术测定给定电解质类型和温度下的微纳米颗粒的临界聚沉浓度；其后，在该浓度条件下，计算颗粒间的静电斥力和长程分子引力的合力，并确定该条件下的颗粒表面电位；最后根据所得表面电位得到颗粒的表面电荷密度。本发明可通过激光散射仪对临界聚沉浓度的测定，准确计算获得微纳米颗粒表面电荷密度，不需分别在气相介质中测定颗粒的外表面积和在液相介质下测定颗粒的表面电荷数量，再计算表面电荷密度。

本发明授权一种测定微纳米颗粒表面电荷密度的方法在权利要求书中公布了：1.一种测定微纳米颗粒表面电荷密度的方法，其特征在于，其包括： S1通过动态光散射技术测定微纳米颗粒在电解质溶液中的临界聚沉浓度； S2基于微纳米颗粒在临界聚沉浓度下的凝聚能量势垒方程，根据所得临界聚沉浓度的值，通过赋值逼近的方法，获得微纳米颗粒的表面电位，根据所得表面电位计算得到所述微纳米颗粒的表面电荷密度； 其中， 所述微纳米颗粒的凝聚能量势垒方程如下： 其中，Δw表示微纳米颗粒的凝聚能量势垒；x表示颗粒间的距离；h表示颗粒的有效头部厚度，即纳微米颗粒凝聚时的有效厚度，可根据经验取值；Pnetx表示长程分子引力的合力；Aeff为纳微米颗粒的Hamaker常数；a和b表示Pnetx＝0时的两个x的值；k表示Boltzmann常数；T表示绝对温度；PEDLx表示与微纳米颗粒的表面电位及临界聚沉浓度有关的临界聚沉浓度下的微纳米颗粒间的静电斥力； 所述微纳米颗粒的表面电荷密度的计算如下： 其中，σ0表示所述微纳米颗粒的表面电荷密度；为所述微纳米颗粒的表面电位；εv表示真空介电常数；D表示介质的相对介电常数；ci表示i离子的浓度；Zi表示i离子的化合价；R为气体常数；β表示反离子的有效电荷系数；e表示自然指数；e0为元电荷电量。

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