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武汉光迅科技股份有限公司;武汉光迅电子技术有限公司陶金涛获国家专利权

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龙图腾网获悉武汉光迅科技股份有限公司;武汉光迅电子技术有限公司申请的专利一种多路径复用的OTDR检测方法和装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115987382B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310000743.8,技术领域涉及:H04B10/071;该发明授权一种多路径复用的OTDR检测方法和装置是由陶金涛;乐孟辉;余春平;付成鹏;卜勤练设计研发完成,并于2023-01-03向国家知识产权局提交的专利申请。

一种多路径复用的OTDR检测方法和装置在说明书摘要公布了:本发明涉及光时域反射技术领域,提供了一种多路径复用的OTDR检测方法和装置。一旦在DWDM器件的公共反射输出端检测到有异常的OTDR反射信号,确认当前OTDR检测信号周期所对应的待检测的光路,并根据预先计算得到的对应各条待检测的光路的理想检测时间,筛选出能够被获取到的所述OTDR反射信号所覆盖的一个或者多个待检测光路;针对筛选出的所述一个或者多个待检测光路,调整各自预设初始周期为对应各自的理想检测时间,以此进行筛选结果的第二轮OTDR检测,从而准确定位当前发生OTDR检测异常的光路。本发明通过设置可调谐波长激光器不同的波长数目及发射信号的周期大小来自动适配。

本发明授权一种多路径复用的OTDR检测方法和装置在权利要求书中公布了:1.一种多路径复用的OTDR检测方法,其特征在于,包括: 获取当前与DWDM器件各个输出端口所耦合的待检测的光路距离,根据所述光路距离计算出理论完成相应检测光路所需理想检测时间;其中,所述理想检测时间是以光路最远端作为反射节点计算出的OTDR信号传输时间; 在启动可调谐激光器后,按照预设初始周期切换导入每一路待检测光路的检测信号的中心波长,作为各待检测光路中发射的OTDR检测信号; 一旦在DWDM器件的公共反射输出端检测到有异常的OTDR反射信号,确认当前OTDR检测信号周期所对应的待检测的光路,并根据预先计算得到的对应各条待检测的光路的理想检测时间,筛选出能够被获取到的所述OTDR反射信号所覆盖的一个或者多个待检测光路; 针对筛选出的所述一个或者多个待检测光路,调整各自预设初始周期为对应各自的理想检测时间,以此进行筛选结果的第二轮OTDR检测,从而准确定位当前发生OTDR检测异常的光路。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人武汉光迅科技股份有限公司;武汉光迅电子技术有限公司,其通讯地址为:430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区流苏南路1号(自贸区武汉片区);或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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