中国电子科技集团公司第四十四研究所刘果获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第四十四研究所申请的专利一种低频窄脉宽交流光响应度测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116086630B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310088054.7,技术领域涉及:G01J11/00;该发明授权一种低频窄脉宽交流光响应度测试方法是由刘果;龙志刚;章浩;李常林设计研发完成,并于2023-02-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种低频窄脉宽交流光响应度测试方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种低频窄脉宽交流光响应度测试方法,属于光电探测领域,包括以下步骤:S1:在光电探测器中设置低噪声前放电路,作为标准探测器;S2:使用1:1分光比的光分路器将激光器的光信号分为两路;S3:一路光进入标准探测器,将窄脉冲光功率转化为电压信号进行检测;S4:另一路光进入待测光电探测器进行加光测试;S5:通过示波器和计算机采集待测光电探测器与标准探测器的光电信号;S6:当激光器出现瞬时光不稳定的情况时,计算机根据标准探测器反馈到示波器上的信号波动幅度,对待测光电探测器在示波器上的示数进行补偿,实现对探测器类产品的交流响应度的准确测量。
本发明授权一种低频窄脉宽交流光响应度测试方法在权利要求书中公布了:1.一种低频窄脉宽交流光响应度测试方法,其特征在于:包括以下步骤: S1:在光电探测器中设置低噪声前放电路,作为标准探测器; S2:使用1:1分光比的光分路器将激光器的光信号分为两路; S3:一路光进入标准探测器,将窄脉冲光功率转化为电压信号进行检测; S4:另一路光进入待测光电探测器进行加光测试; S5:通过示波器和计算机采集待测光电探测器与标准探测器的光电信号; S6:当激光器出现瞬时光不稳定的情况时,计算机根据标准探测器反馈到示波器上的信号波动幅度,对待测光电探测器在示波器上的示数进行补偿,实现对探测器类产品的交流响应度的准确测量; 步骤S1中所述在光电探测器中设置低噪声前放电路,具体为: 将光电探测器芯片D1与D2串联,在D1与D2之间并联有用于平衡探测器结构的电阻R0,对D1施加反向电压u1,则流过D1的电流i1由光电流与暗电流组成: 1 其中UT为电压当量,Is为反向饱和暗电流; 光电探测器芯片D2用于遮光,流过光电探测器芯片D2的电流i2仅包括暗电流部分: 2 由基尔霍夫电流定律,通过电阻R0的电流为: 3 即: 4 i0的第一部分为复合暗电流,若要使其抵消为零,需满足的条件为: 5 R0为平衡探测器结构的负载,可得: 6 若使用该结构的两个探测器芯片,前置放大电路不串联电阻R0,两个PD同时施加等大反向的电压,可得到信号电流的表达式为式7: 7 探测器的暗电流噪声: 8 放大器的热噪声: 9 其中B表示模块使用带宽,K表示玻耳兹曼常数,T表示热力学温度,RL表示模块的等效输出负载; 在此种条件下产生的噪声电压为: 10 由于in1的减小,最终达到减小输出噪声的目的; 步骤S6中具体包括以下步骤: 探测器的交流响应度为: 11 其中Vamp为示波器中读出的因光信号输入探测器产生的交流脉冲电压幅值,Pin为输入探测器的瞬时脉冲光功率; Vamp与Pin值成比例变化,若标准探测器的Vamp发生了x%的变化,可以定量推测出光信号Pin值发生了x%的变化,在计算待测探测器的Re值时,将该变化量x%补偿到计算式11中,即获得测量时光功率Pin的实时值,从而得到准确的待测探测器Re值。
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