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龙图腾网获悉西安近代化学研究所申请的专利一种基于含能化合物分子晶体中分解始发键评价物质稳定性的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116206698B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211678961.9，技术领域涉及：G16C20/30；该发明授权一种基于含能化合物分子晶体中分解始发键评价物质稳定性的方法是由张纬经;杨月桢;杨建;姜夕博;任松涛;张同来设计研发完成，并于2022-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于含能化合物分子晶体中分解始发键评价物质稳定性的方法在说明书摘要公布了：本发明属于含能材料计算化学领域，具体涉及一种基于含能化合物分子晶体中分解始发键评价物质稳定性的方法，以解决“键能法”不适用于分子晶体模型，“键级法”不能横向比较化合物物质稳定性的技术问题。本发明方法通过计算含能化合物分子晶体内化学键的能级，既可以纵向对比体系内所有化学键的强弱，判断分解始发键，又能横向对比不同含能化合物分解始发键能级高低，判断含能化合物的物质稳定性，弥补了现有技术“键级法”的不足。

本发明授权一种基于含能化合物分子晶体中分解始发键评价物质稳定性的方法在权利要求书中公布了：1.一种基于含能化合物分子晶体中分解始发键评价物质稳定性的方法，其特征在于，所述分解始发键的能级高低用于表征含能化合物分子的物质稳定性，所述方法用于评价多个含能化合物的物质稳定性，方法包括： 步骤一，采用步骤1-4获得各含能化合物分子的分解始发键能级： 步骤1，获取含能化合物分子晶体的晶体结构数据，基于预定义参数，采用第一性原理方法优化得到优化后分子晶体结构数据，如果含能化合物结构中有孤电子则在优化过程中设置自旋极化计算，如果含能化合物结构中没有孤电子则在优化过程中设置非自旋极化计算； 所述分子晶体结构数据包括晶胞长度、晶胞方向和分子晶体内所有原子的原始分数坐标；所述预定义参数包括平面波截断能、布里渊区格点数、电子能量收敛标准和原子受力收敛标准；所述优化后分子晶体结构数据包括优化后晶胞长度、优化后晶胞方向、分子晶体内所有原子的优化后分数坐标； 步骤2，根据优化后的分子晶体结构数据，以步骤1的预定义参数为基础，在步骤1所述布里渊区格点数基础上增加布里渊区格点数，取消计算过程中布里渊区的对称性，使用PAW赝势，指定计算中的总能带数，采用第一性原理计算方法进行含能化合物分子的单点能计算获得波函数文件，如果含能化合物结构中有孤电子则在单点能计算中设置自旋极化计算，如果含能化合物结构中没有孤电子则在单点能计算中设置非自旋极化计算； 步骤3，根据步骤2得到的波函数文件，并设定需要计算的电子能量范围，计算含能化合物分子晶体中每个化学键的IpCOHP值，如果在步骤2单点能计算中设置了自旋极化计算，则每个化学键有两个IpCOHP值，如果在步骤2单点能计算中设置了非自旋极化计算，则每个化学键只有一个IpCOHP值；对于有两个IpCOHP值的化学键，两个IpCOHP值相加为该化学键的能级；对于有一个IpCOHP值的化学键，其IpCOHP值为该化学键的能级； 步骤4，比较含能化合物分子内各化学键能级的高低，能级越高化学键越不稳定，能级最高的化学键就为含能化合物的分解始发键； 步骤二，对比多个含能化合物分子晶体内的分解始发键，分解始发键能级越高的含能化合物物质稳定性越差。

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