燕山大学潘钊获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉燕山大学申请的专利共面电容传感器的扫描成像性能评估方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116342577B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310414371.3，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权共面电容传感器的扫描成像性能评估方法及系统是由潘钊;李瑞航;张玉燕;温银堂;戎佳佳设计研发完成，并于2023-04-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本共面电容传感器的扫描成像性能评估方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种共面电容传感器的扫描成像性能评估方法及系统，属于共面电容传感器领域，解决了现有技术中对同面电容传感器的扫描成像性能进行评估需要耗费大量时间的问题。本发明的一种面电容传感器的扫描成像性能评估方法，包括：获取目标传感器在预设探测深度的面层上的灵敏度分布图；提取所述面层的灵敏度分布图中的高灵敏度集中区域作为元图像；根据所述元图像评估所述目标传感器在所述面层的扫描成像性能。本发明提出的元图像，能够反应共面电容传感器与其在相应的探测深度的重建图像质量之间的关联，根据元图像直接评估共面电容传感器的扫描成像性能，从而能够起到节约时间和提高评估效率的效果。
本发明授权共面电容传感器的扫描成像性能评估方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种共面电容传感器的扫描成像性能评估方法，其特征在于，所述方法包括： 获取目标传感器在不同预设探测深度的面层上的灵敏度分布图； 统计所述灵敏度分布图中每个灵敏度值的个数； 计算每个灵敏度值在整个灵敏度分布图中的概率分布； 通过Otsu法提取所述面层的灵敏度分布图中的高灵敏度集中区域作为元图像； 根据所述元图像的面积评估所述目标传感器在所述面层的扫描成像性能； 根据所述元图像的尺寸设置所述共面电容传感器扫描成像时的扫描间距。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人燕山大学，其通讯地址为：066044 河北省秦皇岛市河北大街西段438号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励