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中国科学院上海微系统与信息技术研究所李铁获国家专利权

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龙图腾网获悉中国科学院上海微系统与信息技术研究所申请的专利一种硅纳米线传感器的饱和电流响应标定测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116593532B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310602055.9,技术领域涉及:G01N27/00;该发明授权一种硅纳米线传感器的饱和电流响应标定测试方法是由李铁;陈栋钦;李亚钊;王翊;刘延祥;周宏设计研发完成,并于2023-05-25向国家知识产权局提交的专利申请。

一种硅纳米线传感器的饱和电流响应标定测试方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种硅纳米线传感器的饱和电流响应标定测试方法,利用硅纳米线传感器的电流响应饱和值对标准溶液的电流响应值进行归一化处理,建立硅纳米线传感器对含有目标物溶液的响应标准曲线,利用测试获取所需要的待测样品和标定溶液的电流响应值,基于标定后的响应标准曲线确定对应的待测样品浓度,标定测试结果稳定,具有良好的重复性且标定测试过程方便。相比利用其他的标定手段,利用电流响应饱和值标定不用依赖昂贵的设备,标定过程简洁且标定成本低。此外,在标定过程中,不会对硅纳米线传感器的本身造成损害,不影响硅纳米线传感器的使用性能。

本发明授权一种硅纳米线传感器的饱和电流响应标定测试方法在权利要求书中公布了:1.一种硅纳米线传感器的饱和电流响应标定测试方法,其特征在于,所述标定测试方法包括如下步骤: 对硅纳米线传感器进行表面修饰; 确定预定测试条件,所述预定测试条件包括测试用预设源漏电压、测试用预设光照强度、测试用预设环境温度、测试用预设环境湿度中的任意一种或多种; 测试获取所述硅纳米线传感器在基准溶液中的电流值I1,所述基准溶液为不含有目标物的溶液; 测试获取所述硅纳米线传感器在含有一定预设比例目标物的标准溶液中的电流值I2; 计算所述硅纳米线传感器在所述标准溶液中的电流响应值,其中,计算公式为Sc=I2-I1,Sc为所述硅纳米线传感器在所述标准溶液中的电流响应值; 当所述硅纳米线传感器在所述标准溶液中的电流响应值不再随标准溶液中目标物浓度的增加而变化时,此时的所述硅纳米线传感器在所述标准溶液中的电流响应值即为所述硅纳米线传感器的电流响应饱和值Smax; 基于所述电流响应饱和值对所述硅纳米线传感器的电流响应值进行归一化并对所述归一化的结果进行拟合从而确定目标物响应标准曲线; 依次获取待测样品的电流响应值和标定溶液的电流响应值并基于所述标定溶液的电流响应值对所述待测样品的电流响应值进行归一化,所述标定溶液的定义是:含有能使电流响应饱和的目标物浓度的溶液,将归一化后的所述待测样品的电流响应值代入所述目标物响应标准曲线,从而得到所述待测样品的电流响应值所对应的待测样品浓度。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院上海微系统与信息技术研究所,其通讯地址为:200050 上海市长宁区长宁路865号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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