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龙图腾网获悉长沙学院申请的专利测量装置及其检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116735539B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310564508.3，技术领域涉及：G01N21/59；该发明授权测量装置及其检测方法是由汪之又;邹子星;谭志光;李异杰;朱铭扬设计研发完成，并于2023-05-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本测量装置及其检测方法在说明书摘要公布了：本申请属于生化物质检测领域，尤其涉及一种测量装置及其检测方法，该测量装置包括检测系统、SPRi系统、太赫兹成像系统以及采集控制系统。该测量装置引入太赫兹成像系统，并在微阵列芯片底部的样品池上设置四个通道，依次分别在第一通道通入标准样品、在第二通道通入待测分子、在第三通道通入标准样品、在第四通道通入待测分子，通过采集控制系统控制四个通道实现不同样品注入，同时控制光源组件和太赫兹发射器运动，使p偏振光束和太赫兹信号同时照射同一路通道，通过不同通道之间信号的计算，在太赫兹成像系统对流体内样品种类的判定即可实现待测分子较标准样品的折射率变化，以及提高特异性结合的起始、终止时间判断的准确性。

本发明授权测量装置及其检测方法在权利要求书中公布了：1.一种测量装置，其特征在于，包括： 检测系统，包括微阵列芯片以及与所述微阵列芯片接触的样品池，所述样品池具有第一通道、第二通道、第三通道和第四通道，所述微阵列芯片具有与所述第三通道和所述第四通道对应的固定分子； SPRi系统，包括光源组件、第一直线模组以及第一阵列探测器，所述光源组件设置于所述第一直线模组上并能够在所述第一直线模组的驱动下改变位置，以向所述第一通道或所述第二通道或所述第三通道或所述第四通道发射p偏振光束，所述第一阵列探测器用于接收所述微阵列芯片的金属-介质界面的反射光束； 太赫兹成像系统，包括太赫兹发射器、第二直线模组以及第二阵列探测器，所述太赫兹发射器设置于所述第二直线模组上并能够在所述第二直线模组的驱动下改变位置，以向所述第一通道或所述第二通道或所述第三通道或所述第四通道发射太赫兹信号，所述第二阵列探测器用于接收所述微阵列芯片的表面在流体一侧反射的太赫兹信号；以及 采集控制系统，用于控制所述光源组件、所述第一直线模组、所述太赫兹发射器和所述第二直线模组的动作，以及采集并计算所述第一阵列探测器和所述第二阵列探测器的数据。

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