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龙图腾网获悉武汉昊晟光电科技有限公司申请的专利一种激光波长测量光路、测量方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119197787B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411323515.5，技术领域涉及：G01J9/00；该发明授权一种激光波长测量光路、测量方法和系统是由余庚华;陈鹏设计研发完成，并于2024-09-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种激光波长测量光路、测量方法和系统在说明书摘要公布了：本申请公开了一种激光波长测量光路、测量方法和系统。测量光路包括光纤、抛物面反射镜、45°分光镜、劈尖，柱透镜和线阵探测器等。入射光经光纤和抛物面反射镜后变成平行光；再经过45°分光镜后在劈尖上形成干涉条纹；干涉条纹经过45°分光镜和柱透镜后汇聚到线阵探测器。先用已知波长的激光对劈尖定标；测量时需调用定标数据对待测激光干涉条纹进行处理，得到待测波长。使用多个不同高度的劈尖协同测量，可以提高测量精度。热膨胀效应和空气折射率变化会影响测量精度，在高精度波长测量场景中需用低膨胀材料的劈尖并进行温控，且实时校准空气折射率。通过本申请中的激光波长测量光路、测量方法和系统，可以实现MHz精度的波长测量。

本发明授权一种激光波长测量光路、测量方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种激光波长测量光路，其特征在于，包括： 平行光束整形器，由光纤和抛物面反射镜组成，用于将激光变成平行光； 45°分光镜，位于平行光束出射光路上，用于分光； 劈尖，位于45°分光镜后方，用于接收所述平行光并形成干涉条纹，劈尖上表面镀部分透射部分反射膜且底面镀高反射膜； 柱透镜，位于线阵探测器和45°分光镜之间，用于沿条纹方向聚光； 干涉条纹依次经过45°分光镜和柱透镜后，汇聚到线阵探测器进行探测； 所述劈尖包括：第一级劈尖，第二级劈尖，第三级劈尖；每个劈尖独自构成一组测量光路；通过分析所述劈尖产生的干涉条纹数据，进行波长测量；所述劈尖固定在低膨胀材料基底上，基底温度可控，以抑制热膨胀对波长测量的影响； 所述第一级劈尖需要满足： βk≤N；或βμ×λΔλ≤N×μ； 所述第二级劈尖，第三级劈尖，应满足条件： β×2D一级λ＜N； │2D二级λ－2D二级λ±δλ一级│＜1； │2D三级λ－2D三级λ±δλ二级│＜1； 各级所述劈尖在对应光路中产生的条纹间距满足：L＝λ2sinθ≤N×μ； 其中，k：条纹级数；β：探测器分辨率系数；μ：探测器像元尺寸；βμ：探测器分辨极限，β取值范围0＜β≤1，β＝1表示探测器分辨极限为一个像元，进行系统优化可以改善分辨极限，此时对应的β＜1；N：探测器像元个数；Δλ：波长变化；λ：波长；δλ一级：第一级劈尖测量不确定度，δλ二级：第二级劈尖测量不确定度，D一级：第一级劈尖高度；D二级：第二级劈尖高度；D三级：第三级劈尖高度；θ：劈尖倾角，sinθ≈tanθ≈θ；L：条纹间距； 各级所述劈尖，其对应的波长测量不确定度由下式评估： δλ＝βμ×2sinθk； 其中，δλ：波长测量不确定度；k：条纹级数。

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