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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利对固态硬盘性能测试的测试方法和装置、存储介质及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119446235B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411487583.5，技术领域涉及：G11C29/08；该发明授权对固态硬盘性能测试的测试方法和装置、存储介质及电子设备是由费卫宏;王萌萌;尹作刚设计研发完成，并于2024-10-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本对固态硬盘性能测试的测试方法和装置、存储介质及电子设备在说明书摘要公布了：本申请实施例提供了一种对固态硬盘性能测试的测试方法和装置、存储介质及电子设备。其中，该方法包括：获取与固态硬盘上非易失性存储模块匹配的规格参数集合，其中，规格参数集合中包括通道数量参数，核心数量参数以及逻辑单元数量参数，通道数量参数用于指示非易失性存储模块上用于数据传输的数据通道的数量，核心数量参数用于指示接收和执行命令的芯片的数量，逻辑单元数量参数用于指示用于执行逻辑操作的逻辑单元的数量；根据规格参数集合确定非易失性存储模块中执行目标测试操作的测试单元以及测试单元的目标数量；从测试资源集合中获取测试资源的状态标识，根据状态标识确定对测试单元执行目标测试操作。

本发明授权对固态硬盘性能测试的测试方法和装置、存储介质及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种对固态硬盘性能测试的测试方法，其特征在于， 包括： 获取与固态硬盘上非易失性存储模块匹配的规格参数集合，其中，所述规格参数集合中包括通道数量参数，核心数量参数以及逻辑单元数量参数，所述通道数量参数用于指示所述非易失性存储模块上用于数据传输的数据通道的数量，所述核心数量参数用于指示接收和执行命令的芯片的数量，所述逻辑单元数量参数用于指示用于执行逻辑操作的逻辑单元的数量； 根据所述规格参数集合确定所述非易失性存储模块中执行目标测试操作的测试单元以及所述测试单元的目标数量，其中，所述目标测试操作包括以下至少之一：读数据操作，写数据操作，擦数据操作； 从测试资源集合中获取测试资源的状态标识，根据所述状态标识确定对所述测试单元执行所述目标测试操作，包括：在任务处理集合非空的情况下，从所述任务处理集合中获取所述测试资源，并获取与所述测试资源匹配的所述状态标识；在所述状态标识为擦数据请求标识的情况下，根据测试单元地址和所述测试资源对所述测试单元执行所述擦数据操作，并将所述测试资源的所述状态标识修改为擦数据完成，其中，所述测试单元地址根据所述规格参数集合确定；在所述状态标识为写数据请求标识的情况下，根据所述测试单元地址和所述测试资源对所述测试单元执行所述写数据操作，并将所述测试资源的所述状态标识修改为写数据完成；在所述状态标识为读数据请求标识的情况下，根据所述测试单元地址和所述测试资源对所述测试单元执行所述读数据操作，并将所述测试资源的所述状态标识修改为读数据完成，其中，所述测试资源集合中所述测试资源的数量等于所述测试单元的所述目标数量。

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