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龙图腾网获悉中国科学院半导体研究所申请的专利磁光测量系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119757230B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510003420.3，技术领域涉及：G01N21/17；该发明授权磁光测量系统是由王开友;钱轩;姬扬设计研发完成，并于2025-01-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本磁光测量系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种磁光测量系统，可应用于光学测量技术领域。该系统包括：宽带光源、宽带光源性能调控模块、保偏环形器、光学相位调制解调模块、磁光光谱采集模块以及信号探测模块，其中，宽带光源产生的初始光信号经过宽带光源性能调控模块调控，得到稳定的光信号，稳定的光信号经过保偏环形器，进入光学相位调制解调模块，经过调制后产生出射光束；出射光束进入磁光光谱采集模块，经过磁光信号调制后得到在样品上的反射光束；反射光束经过光学相位调制解调模块，经过解调后发生干涉，产生干涉信号；以及干涉信号经过保偏环形器进入信号探测模块，由信号探测模块记录并生成磁光光谱。

本发明授权磁光测量系统在权利要求书中公布了：1.一种磁光测量系统，其特征在于，包括： 宽带光源、宽带光源性能调控模块、保偏环形器、光学相位调制解调模块、磁光光谱采集模块以及信号探测模块， 其中，所述宽带光源用于产生初始光信号； 所述宽带光源性能调控模块用于对所述初始光信号进行调控，以得到稳定的光信号，所述稳定的光信号经过所述保偏环形器，进入所述光学相位调制解调模块，经过调制后产生出射光束； 所述出射光束进入磁光光谱采集模块，经过磁光信号调制后在样品上的反射光由同一条保偏光纤收集，得到反射光束； 所述反射光束经过光学相位调制解调模块，经过解调后发生干涉，产生干涉信号；以及 所述干涉信号经过所述保偏环形器进入所述信号探测模块，由所述信号探测模块记录并生成磁光光谱； 其中，光学相位调制解调模块包括在线起偏器、电光相位调制器以及任意波形发生器，其中， 所述在线起偏器与所述电光相位调制器用于对光束进行调制与解调； 所述任意波形发生器用于调节所述电光相位调制器的工作频率以及提供时钟同步信号； 所述在线起偏器的偏振角度与所述电光相位调制器的慢轴呈45度，所述在线起偏器与所述电光相位调制器用于对光束进行调制与解调，包括： 所述在线起偏器用于使光束的偏振方向对准与快慢轴成45度角的方向，以将在慢轴传播的光束均分到慢轴和快轴两个模式上；以及 所述电光相位调制器用于对所述两个模式上传播的光束分别加上相位调制。

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