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龙图腾网获悉中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团测井有限公司申请的专利一种井下X射线密度测量中高压调节装置和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119914277B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311434606.1，技术领域涉及：E21B49/00；该发明授权一种井下X射线密度测量中高压调节装置和方法是由王虎;岳爱忠;张晓蕾;何绪新;董政;郭智强;刘居昭;葛云龙;熊世涛设计研发完成，并于2023-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种井下X射线密度测量中高压调节装置和方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种井下X射线密度测量中高压调节装置和方法，装置包括探测器；探测器与X射线源之间使用通道连接，探测器与通道的连接位置安装有过滤器；探测器的外侧包围有屏蔽体；光子通过过滤器到达探测器，过滤器将过滤低能的光子，将初始光谱的高能部分传递给探测器。方法包括以下步骤，步骤1，设置通道的屏蔽体厚度以及不同高压的能谱；步骤2，确定不同高压与归一化差值之间的关系；步骤3，确定不同高压与计数之间的关系；步骤4，对不同高压与计数进行校正，完成高压调节。本发明可以有效地监测井下X射线发生器高压的变化，确保X射线密度测井计数率的准确性，对X射线密度测井计算精度有重要意义。

本发明授权一种井下X射线密度测量中高压调节装置和方法在权利要求书中公布了：1.一种井下X射线密度测量中高压调节方法，其特征在于，所述方法采用井下X射线密度测量中高压调节装置，包括探测器3； 所述探测器3与X射线源之间使用通道1连接，所述探测器3与通道1的连接位置安装有过滤器2；所述探测器3的外侧包围有屏蔽体4； 光子通过过滤器2到达探测器3，过滤器2将过滤低能的光子，将初始光谱的高能部分传递给探测器3； 所述方法包括以下步骤， 步骤1，设置通道1的屏蔽体4厚度以及不同高压的能谱； 步骤2，确定不同高压与归一化差值之间的关系； 步骤3，确定不同高压与计数之间的关系；利用蒙特卡罗模拟对仪器在不同高压情况下进行模拟；求取不同高压下的计数率与仪器正常工作时，使用的高压下的计数率比值KU，KU表示为： 其中，WU为不同高压的计数率，W0为高压为仪器正常工作时，使用的高压下的计数率； 步骤4，对不同高压与计数进行校正，完成高压调节；不同高压的G因子与计数率比值KU的公式为： 。

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