苏州元脑智能科技有限公司靳嘉晖获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利固态硬盘的性能测试方法、装置和存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120072015B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510021936.0,技术领域涉及:G11C29/56;该发明授权固态硬盘的性能测试方法、装置和存储介质是由靳嘉晖;孙海涛;栾玉雪设计研发完成,并于2025-01-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本固态硬盘的性能测试方法、装置和存储介质在说明书摘要公布了:本申请实施例提供了一种固态硬盘的性能测试方法、装置和存储介质,该方法包括:通过指定的加速磨损干预策略,多次改变待测固态硬盘的磨损值,以模拟待测固态硬盘在全生命周期中的多个生命周期阶段的磨损状态;全生命周期指待测固态硬盘从零磨损到磨损值上限的生命周期;多个生命周期阶段中的不同生命周期阶段对应不同的磨损值范围;针对指定性能项,对与多个生命周期阶段对应的磨损状态下的待测固态硬盘分别进行性能测试,得到指定性能项与多个生命周期阶段对应的测试值;根据指定性能项与多个生命周期阶段对应的测试值,确定待测固态硬盘的性能测试结果。上述方法,解决了相关技术中固态硬盘因磨损值测试力度不足导致使用过程中性能下降的问题。
本发明授权固态硬盘的性能测试方法、装置和存储介质在权利要求书中公布了:1.一种固态硬盘的性能测试方法,其特征在于,包括: 通过指定的加速磨损干预策略,多次改变待测固态硬盘的磨损值,以模拟所述待测固态硬盘在全生命周期中的多个生命周期阶段的磨损状态;所述全生命周期指所述待测固态硬盘从零磨损到磨损值上限的生命周期;所述多个生命周期阶段中的不同生命周期阶段对应不同的磨损值范围; 针对指定性能项,对与所述多个生命周期阶段对应的磨损状态下的所述待测固态硬盘分别进行性能测试,得到所述指定性能项与所述多个生命周期阶段对应的测试值; 根据所述指定性能项与所述多个生命周期阶段对应的测试值,确定所述待测固态硬盘的性能测试结果; 其中,所述通过指定的加速磨损干预策略,多次改变待测固态硬盘的磨损值,以模拟所述待测固态硬盘在全生命周期中的多个生命周期阶段的磨损状态,包括: 将所述多个生命周期阶段中的每个生命周期阶段分别作为当前生命周期阶段执行以下的第一干预操作,以模拟所述待测固态硬盘在所述每个生命周期阶段的磨损状态,与所述当前生命周期阶段对应的磨损值范围为当前磨损值范围: 向所述待测固态硬盘下发第一指令;所述第一指令用于将所述待测固态硬盘的磨损值修改为第一目标磨损值,以通过所述第一目标磨损值模拟所述待测固态硬盘在所述当前生命周期阶段中的磨损状态;所述第一目标磨损值为所述当前磨损值范围内的任一磨损值。
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