株式会社理学田中良明获国家专利权
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龙图腾网获悉株式会社理学申请的专利荧光X射线分析装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120641743B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202480010379.6,技术领域涉及:G01N23/223;该发明授权荧光X射线分析装置是由田中良明;青柳光一设计研发完成,并于2024-08-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本荧光X射线分析装置在说明书摘要公布了:本发明即使在由隔板膜隔开的空间中存在压力差也能够进行测定,并且容易地张设隔板膜而不产生挠曲或褶皱。一种荧光X射线分析装置,其具有内部为真空的照射室和内部为大气压的样品室,该荧光X射线分析装置具有:窗框保持部件,其构成照射室与样品室之间的隔板的一部分,并具备使X射线通过的开口;以及窗框部件,其由使X射线透过的材料形成,保持作为隔板的一部分的隔板膜,并配置在窗框保持部件的开口内,窗框部件具有:环状的内侧薄膜保持部件,其具有从配置在样品室侧的基端朝向配置在所述照射室侧的前端延伸的周壁,前端形成由所述隔板膜的一部分封闭的开口;以及环状的外侧薄膜保持部件,其通过从内侧薄膜保持部件的前端插入并安装在内侧薄膜保持部件的基端上,将隔板膜的一部分的周缘固定在内侧薄膜保持部件上。
本发明授权荧光X射线分析装置在权利要求书中公布了:1.一种荧光X射线分析装置,具有:照射室,其处于真空环境下并配置有射出X射线的X射线源;以及样品室,其处于大气压环境下并配置有样品池,其特征在于,具有: 窗框保持部件,其构成所述照射室与所述样品室之间的隔板的一部分,并具备使所述X射线从所述照射室通过至所述样品室的开口;以及 窗框部件,其由使所述X射线透过的材料形成,保持构成所述隔板的另一部分的隔板膜,并配置在所述窗框保持部件的所述开口内, 所述窗框保持部件具有多个使所述X射线通过的贯通孔,并且具有在所述照射室侧与所述隔板膜邻接配置并从照射室侧支撑所述隔板膜的薄膜支撑部件, 所述窗框部件具有: 环状的内侧薄膜保持部件,其具有从配置在所述样品室侧的基端朝向配置在所述照射室侧的前端延伸的周壁,所述前端形成由所述隔板膜的一部分封闭的开口;以及 环状的外侧薄膜保持部件,其通过从所述内侧薄膜保持部件的所述前端插入并安装在所述内侧薄膜保持部件的所述基端上,将所述隔板膜的所述一部分的周缘固定在所述内侧薄膜保持部件上。
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