株式会社理学原真也获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉株式会社理学申请的专利荧光X射线分析装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120752521B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202480014444.2，技术领域涉及：G01N23/223；该发明授权荧光X射线分析装置是由原真也;山田康治郎;冈崎菜津实设计研发完成，并于2024-02-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本荧光X射线分析装置在说明书摘要公布了：本发明的荧光X射线分析装置中，定量机构将分析成分的第一定量值与分析成分的第二定量值的差作为分析成分的理论定量值标准偏差显示在显示器上，该分析成分的第一定量值基于各成分的测定强度得到，该分析成分的第二定量值通过在各成分的校准曲线公式中使测定强度向分析成分的含量变化增大的方向变动而求出。
本发明授权荧光X射线分析装置在权利要求书中公布了：1.一种荧光X射线分析装置，该荧光X射线分析装置中，向样品照射一次X射线，基于所产生的荧光X射线的测定强度，通过用于进行吸收激发校正和重叠校正的校准曲线法的定量机构求出所述样品中的成分的含量，其中， 所述定量机构进行如下操作： 基于分析成分和校正成分的测定强度，通过分析成分和校正成分的校准曲线公式求出分析成分的含量作为第一定量值； 在分析成分的校准曲线公式中，使该分析成分的测定强度向分析成分的含量增加或减少的方向变动规定量； 在校正成分的校准曲线公式中，使该校正成分的测定强度向与变动分析成分的测定强度的方向相同的方向变动规定量； 基于分析成分和校正成分的测定强度以及分析成分和校正成分的变动后的测定强度，通过分析成分和校正成分的校准曲线公式求出分析成分的含量作为第二定量值， 将所述第一定量值与所述第二定量值的差作为理论定量值标准偏差显示在显示器上。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人株式会社理学，其通讯地址为：日本东京都；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励