深圳市曼恩斯特科技股份有限公司龙兵获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市曼恩斯特科技股份有限公司申请的专利锂电涂布极片面密度测量方法、系统及涂布检测设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120890848B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511417103.2，技术领域涉及：G01N9/24；该发明授权锂电涂布极片面密度测量方法、系统及涂布检测设备是由龙兵;彭建林;颜煜圻设计研发完成，并于2025-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本锂电涂布极片面密度测量方法、系统及涂布检测设备在说明书摘要公布了：本发明提供了一种锂电涂布极片面密度测量方法、系统及涂布检测设备，涉及涂布检测技术领域，该方法通过X射线源发射X射线穿透锂电涂布极片，利用探测器分别采集穿透前后的本底能谱与样品能谱，结合涂布层中特征元素如Li、Co、C等的衰减系数曲线，并利用本底能谱与样品能谱的均方误差结果进行全能谱拟合，最终得到最优的面密度值，从而解决了现有β射线方案的辐射安全问题以及红外光方案受材料光学特性干扰等问题，实现了对锂电涂布极片面密度的无损、高精度、多元素同时测量。
本发明授权锂电涂布极片面密度测量方法、系统及涂布检测设备在权利要求书中公布了：1.一种锂电涂布极片面密度测量方法，其特征在于，所述方法应用于涂布检测设备；其中，所述涂布检测设备至少包含X射线源、探测器和载物台；所述载物台用于放置并传输待测量的锂电涂布极片；所述X射线源和所述探测器分别设置在所述锂电涂布极片的对侧，且所述X射线源的发射端与所述探测器的接收端共轴对准； 所述方法包括： 基于所述锂电涂布极片的型号参数确定所述X射线源的发射参数和测量参数； 控制所述载物台将所述锂电涂布极片传输至所述X射线源的射线光路，利用所述发射参数控制所述X射线源向所述锂电涂布极片发射X射线； 利用所述测量参数控制所述探测器获取所述X射线源穿透所述锂电涂布极片后对应的样本能谱； 根据所述样本能谱确定所述锂电涂布极片的涂布层中包含的元素； 获取所述元素对应的衰减系数曲线以及所述锂电涂布极片中所述元素对应的面密度数据，利用所述衰减系数曲线与所述面密度数据的乘积结果构建所述锂电涂布极片的理论能谱； 基于所述理论能谱与所述样本能谱的均方误差结果，通过所述面密度数据确定所述锂电涂布极片对应的面密度。
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