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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利测试用例选择方法、电子设备、存储介质及程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120994484B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511519845.6，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权测试用例选择方法、电子设备、存储介质及程序产品是由孙明刚;刘涛设计研发完成，并于2025-10-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本测试用例选择方法、电子设备、存储介质及程序产品在说明书摘要公布了：本申请公开了一种测试用例选择方法、电子设备、存储介质及程序产品，涉及性能测试技术领域，通过本申请，在不同运行参数下分别执行样本测试用例，通过计算影响度评估值，选取对于运行参数的变化更加敏感的、具有代表性的测试用例，使得筛选出的目标测试用例仍然能够精准反应被测设备的性能，在保证测试效果的同时减少了测试用例的数量，减少测试所需时间，提高了测试效率。

本发明授权测试用例选择方法、电子设备、存储介质及程序产品在权利要求书中公布了：1.一种测试用例选择方法，其特征在于，包括： 根据多个样本测试用例对第一设备执行多轮测试，获取每个所述样本测试用例在所述多轮测试中每轮测试下的测试分数，每轮测试时所述第一设备的运行参数不同，所述测试分数用于表征所述第一设备运行样本测试用例时处理任务的速度； 根据所述测试分数以及所述运行参数，计算得到所述每个所述样本测试用例分别对应的影响度评估值，所述样本测试用例对应的影响度评估值用于表征所述样本测试用例与运行参数的关联度，所述关联度指运行参数的改变对所述样本测试用例的测试分数的影响程度； 确定所述影响度评估值大于评估值阈值的至少一个样本测试用例为目标测试用例； 根据所述测试分数以及所述运行参数，计算得到所述每个所述样本测试用例分别对应的影响度评估值，包括： 对于每个所述样本测试用例，以所述运行参数为自变量，以所述测试分数为因变量进行线性拟合，得到所述样本测试用例对应的回归方程； 确定所述回归方程的斜率的绝对值为所述测试用例对应的影响度评估值； 在所述得到所述样本测试用例对应的回归方程之后，所述方法还包括：根据所述回归方程，确定所述样本测试用例在所述多轮测试中每个所述运行参数分别对应的理论分数； 对于每个所述运行参数，计算所述运行参数对应的理论分数与测试分数之差的平方，得到所述运行参数对应的第一参考值； 计算所述运行参数对应的测试分数与所述多轮测试中测试分数的平均值之差的平方，得到所述运行参数对应的第二参考值； 计算所述样本测试用例对应的多个第一参考值之和与多个第二参考值之和的比值，得到所述样本测试用例的变异评估值； 若所述变异评估值大于预设变异阈值，则确定所述样本测试用例不是所述目标测试用例。

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