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龙图腾网获悉沐曦集成电路(上海)股份有限公司申请的专利自动生成芯片事件统计模块的方法、电子设备和介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121031521B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511564577.X，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权自动生成芯片事件统计模块的方法、电子设备和介质是由牛娜;王定设计研发完成，并于2025-10-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本自动生成芯片事件统计模块的方法、电子设备和介质在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种自动生成芯片事件统计模块的方法、电子设备和介质，方法包括：步骤S1、根据预设的数据结构设置目标事件统计模块生成信息；步骤S2、根据目标事件统计模块对应的待测设计标识和计数器数量，生成目标事件统计模块架构；步骤S3、根据目标事件统计模块对应的信号参数列表生成控制模块和功能模块，并在控制模块和目标事件统计架构之间生成控制信号，在功能模块和目标事件统计架构之间生成功能信号，在目标事件统计架构和待测芯片设计之间生成事件信号，生成完整的目标事件统计模块。本发明降低了生成芯片事件统计模块的成本，提高了生成芯片事件统计模块的效率和准确性。

本发明授权自动生成芯片事件统计模块的方法、电子设备和介质在权利要求书中公布了：1.一种自动生成芯片事件统计模块的方法，其特征在于，包括： 步骤S1、根据预设的数据结构设置目标事件统计模块生成信息，所述预设的数据结构包括待测设计标识数据段、计数器数量数据段和信号参数列表数据段，所述待测设计标识数据段用于设置目标事件统计模块对应的待测芯片设计标识，所述计数器数量数据段用于设置目标事件统计模块对应的计数器数量X，所述信号参数列表数据段用于设置目标事件统计模块对应的信号参数列表{A1,A2,...,Am,...,AM}， 其中，Am为目标事件统计模块的第m个信号参数，m的取值范围为1到M，M为目标事件统计模块的信号总数，信号参数包括信号名、信号类型和信号位宽，信号类型包括控制信号类型、功能信号类型和事件信号类型； 步骤S2、解析所述预设的数据结构，根据目标事件统计模块对应的待测设计标识和计数器数量，生成目标事件统计模块架构，所述目标事件统计模块架构中包括X个计数器； 步骤S3、解析所述预设的数据结构，根据目标事件统计模块对应的信号参数列表生成控制模块和功能模块，并在控制模块和目标事件统计架构之间生成控制信号，在功能模块和目标事件统计架构之间生成功能信号，在目标事件统计架构和待测芯片设计之间生成事件信号，生成完整的目标事件统计模块。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人沐曦集成电路(上海)股份有限公司，其通讯地址为：201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路498号8幢19号楼3层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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