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龙图腾网获悉中国空间技术研究院申请的专利一种元器件试验方案设计方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121052682B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511596106.7，技术领域涉及：G06Q10/0637；该发明授权一种元器件试验方案设计方法、装置、设备及介质是由吕倩倩;谷瀚天;姜贸公;屈若媛;王发辉设计研发完成，并于2025-11-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种元器件试验方案设计方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本发明提供了一种元器件试验方案设计方法、装置、设备及介质，涉及元器件试验技术领域。该方法包括：确定失效率的第一概率分布；构建失效率的似然函数；将第一概率分布和似然函数进行融合，得到第二概率分布，并确定失效率的置信上限值；当预设期望失效率与置信上限值的差值大于或等于预设安全阈值时，调整等效试验时间以使调整后的第二概率分布满足预设边界条件；以调整后的等效试验时间为约束，调整各预设试验参数得到各目标试验参数，根据各目标试验参数生成试验方案。本发明通过预设期望失效率与置信上限值的差值决策能否降低等效试验时间，并在约束下调整等效试验时间，实现试验参数的逆向优化，使得试验方案能够兼容可靠性与经济性。

本发明授权一种元器件试验方案设计方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种元器件试验方案设计方法，其特征在于，包括： 根据获取的元器件的履历数据，确定所述元器件的失效率对应的第一概率分布；其中，所述履历数据包括所述元器件的应用数量、应用时间和失效数量； 根据各预设试验参数确定所述元器件的等效试验时间，并基于所述等效试验时间和获取的所述元器件对应的试验失效数量构建所述失效率的似然函数；其中，所述试验失效数量根据所述元器件在各所述预设试验参数下进行试验后确定；所述预设试验参数包括加速因子、抽样数量以及试验时间； 将所述第一概率分布和所述似然函数进行融合，得到所述失效率对应的第二概率分布，并根据所述第二概率分布确定预设置信度下所述失效率的置信上限值； 当预设期望失效率与所述置信上限值的差值大于或等于预设安全阈值时，将所述等效试验时间设为变量，调整所述等效试验时间以使调整后的第二概率分布满足预设边界条件；其中，所述预设边界条件包括在所述预设置信度下，基于所述调整后的第二概率分布确定的所述失效率的置信上限值等于所述预设期望失效率； 以调整后的等效试验时间为约束，调整各所述预设试验参数得到各目标试验参数，并根据各所述目标试验参数生成所述元器件的试验方案。

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