山东大学魏铭洋获国家专利权
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龙图腾网获悉山东大学申请的专利微区磁光参数、光学常数和磁畴综合测试分析系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121090429B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511633138.X，技术领域涉及：G01N21/21；该发明授权微区磁光参数、光学常数和磁畴综合测试分析系统及方法是由魏铭洋;赵显;周翔安;连洁;王晓;崔宝山;刘建志设计研发完成，并于2025-11-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本微区磁光参数、光学常数和磁畴综合测试分析系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种微区磁光参数、光学常数和磁畴综合测试分析系统及方法，属于磁性材料测试与分析技术领域，系统包括：光源模块，用于发射平行光束；匀光整形模块，用于对入射的平行光束进行补偿，输出均匀平行光束；偏振调制模块，用于偏转均匀平行光束生成线偏振光，并调制线偏振光的偏振态，生成具有高偏振态的近似线偏振光并检偏；电磁铁样品台，用于放置待测样品并调控待测样品所处的磁场环境；成像探测模块，用于采集经待测样品作用后的光强信号并转化为图像数据；控制与分析模块，用于控制各模块的运行，根据采集的光强信号和图像数据，计算待测样品的光学常数、磁光参数以及动态观测磁畴变化。
本发明授权微区磁光参数、光学常数和磁畴综合测试分析系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种微区磁光参数、光学常数和磁畴综合测试分析系统，其特征在于，包括： 光源模块，用于发射平行光束； 匀光整形模块，用于对入射的平行光束进行补偿，输出均匀平行光束； 偏振调制模块，用于偏转均匀平行光束生成线偏振光，并调制线偏振光的偏振态，生成具有高偏振态的近似线偏振光并检偏； 电磁铁样品台，用于放置待测样品并调控待测样品所处的磁场环境； 成像探测模块，用于采集经待测样品作用后的光强信号并转化为图像数据； 控制与分析模块，用于控制各模块的运行，根据采集的光强信号和图像数据，计算待测样品的光学常数、磁光参数以及动态观测磁畴变化。
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