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龙图腾网获悉上海芯钬量子科技有限公司申请的专利半导体器件的自适应扫描的仿真方法、系统、设备、存储介质及程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121189262B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511726867.X，技术领域涉及：G06F30/367；该发明授权半导体器件的自适应扫描的仿真方法、系统、设备、存储介质及程序产品是由沈斯杰;盛阳;夏长生;杨猛;苏云龙;周昕锐设计研发完成，并于2025-11-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本半导体器件的自适应扫描的仿真方法、系统、设备、存储介质及程序产品在说明书摘要公布了：本发明涉及半导体器件的计算机辅助设计技术领域，公开了一种半导体器件的自适应扫描的仿真方法、系统、电子设备、可读存储介质以及程序产品，用于解决现有技术在物理量变化复杂的仿真场景下，固定扫描步长的方式会使得仿真次数冗余或者仿真结果失真的技术问题。包括：响应于仿真请求获取扫描参数，其中，扫描参数包括扫描步长、扫描起始点和扫描终点；从扫描起始点开始，以当前扫描步长构建扫描值，基于扫描值执行仿真；获取当前仿真过程中的迭代次数；基于迭代次数评价本次仿真过程的收敛性，并根据收敛性评价结果调整扫描步长；基于调整后的扫描步长构建下一个扫描值；循环执行仿真求解以及扫描步长的调整，直到扫描值达到扫描终点完成仿真。

本发明授权半导体器件的自适应扫描的仿真方法、系统、设备、存储介质及程序产品在权利要求书中公布了：1.一种半导体器件的自适应扫描的仿真方法，其特征在于，包括： 响应于仿真请求获取扫描参数，其中，所述扫描参数包括初始的扫描步长、扫描起始点和扫描终点； 从扫描起始点开始，以当前扫描步长构建扫描值，基于所述扫描值执行仿真； 当仿真求解成功时，获取当前仿真过程中的迭代次数； 构建步长调整函数，所述步长调整函数的表达式为： ； 其中，所述表示调整后的扫描步长，所述表示上一步扫描步长，表示步长调整值； 当所述仿真迭代次数大于预设的最优迭代次数时，则当前扫描步骤中收敛性差，令所述步长调整值小于0，并基于所述步长调整函数计算调整后的扫描步长； 当所述仿真迭代次数小于预设的最优迭代次数时，则当前扫描步骤中收敛性好，令所述步长调整值大于0，并基于所述步长调整函数计算调整后的扫描步长； 基于调整后的扫描步长构建下一个扫描值； 循环执行仿真求解以及扫描步长的调整，直到构建的扫描值达到扫描终点，完成半导体器件的仿真。

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