上海启泰沣华半导体科技有限公司请求不公布姓名获国家专利权
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龙图腾网获悉上海启泰沣华半导体科技有限公司申请的专利一种芯片老化测试机主动式温度控制方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121254944B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511813657.4，技术领域涉及：G05D23/20；该发明授权一种芯片老化测试机主动式温度控制方法及系统是由请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2025-12-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片老化测试机主动式温度控制方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片测试工程控制技术领域，特别涉及一种芯片老化测试机主动式温度控制方法及系统，包括：根据测试任务参数解析测试流程，并评估测试芯片的预期热负载变化率，以动态生成芯片目标结温控制曲线；基于芯片目标结温控制曲线、实际芯片结温和当前实际炉温，通过结温闭环控制算法获取理论炉温，并结合测试状态参数通过前馈补偿算法计算炉温补偿量，根据理论炉温与炉温补偿量获取理想炉温；根据基础温度调节量与温度控制补偿量获取实际温度控制量，本发明能够更加精准跟踪预设的芯片目标结温控制曲线，更能有效抑制由测试程序切换和环境波动引起的瞬态和稳态误差，实现对芯片结温的更高精度和更快响应的控制。
本发明授权一种芯片老化测试机主动式温度控制方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种芯片老化测试机主动式温度控制方法，其特征在于，包括： 获取芯片老化测试机的运行参数和测试任务参数； 根据所述测试任务参数解析测试流程，并评估测试芯片的预期热负载变化率，以动态生成芯片目标结温控制曲线； 根据所述运行参数获取芯片实际结温和当前实际炉温，基于所述芯片目标结温控制曲线、实际芯片结温和当前实际炉温，通过结温闭环控制算法获取理论炉温，并结合测试状态参数通过前馈补偿算法计算炉温补偿量，根据所述理论炉温与所述炉温补偿量获取理想炉温； 获取环境参数，根据所述理想炉温和当前实际炉温获取基础温度调节量，并结合所述环境参数通过前馈补偿算法获取温度控制补偿量，根据所述基础温度调节量与所述温度控制补偿量获取实际温度控制量； 将所述实际温度控制量转换为执行机构的控制信号，控制加热系统和制冷系统的能量输出值； 实时监测芯片老化测试机的运行参数，根据分级报警策略执行安全保护动作。
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