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龙图腾网获悉海光信息技术股份有限公司申请的专利一种芯片性能验证方法及装置、电子设备、存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114201941B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111449083.9，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权一种芯片性能验证方法及装置、电子设备、存储介质是由鄢其力设计研发完成，并于2021-11-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片性能验证方法及装置、电子设备、存储介质在说明书摘要公布了：本发明实施例公开一种芯片性能验证方法及装置、电子设备、存储介质，涉及电子设计自动化领域，能够有效提高芯片性能验证效率。所述方法包括：通过性能统计管理平台，从待验证芯片的预设模型环境接收模型状态信息；其中，所述性能统计管理平台与所述预设模型环境之间通过预设接口通信，所述预设模型环境包括以下至少一种：功能验证环境、硬件模拟环境、性能模型环境；触发所述性能统计管理平台根据所述模型状态信息生成验证控制信号；在所述验证控制信号的控制下，通过预设的性能统计组件，从所述预设模型环境接收所述待验证芯片的模型运行数据，并对所述模型运行数据进行性能统计，得到对应的性能统计结果。本发明适用于芯片性能验证中。

本发明授权一种芯片性能验证方法及装置、电子设备、存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片性能验证方法，其特征在于，包括： 通过性能统计管理平台，从待验证芯片的预设模型环境接收模型状态信息；其中，所述性能统计管理平台与所述预设模型环境之间通过预设接口通信，所述预设模型环境包括以下至少一种：功能验证环境、硬件模拟环境、性能模型环境； 触发所述性能统计管理平台根据所述模型状态信息生成验证控制信号； 在所述验证控制信号的控制下，通过预设的性能统计组件，从所述预设模型环境接收所述待验证芯片的模型运行数据，并对所述模型运行数据进行性能统计，得到对应的性能统计结果，其中，所述性能统计管理平台所基于的编程语言与所述预设模型环境所基于的编程语言以及所述性能统计组件所基于的编程语言彼此兼容； 其中，所述在所述验证控制信号的控制下，通过预设的性能统计组件，从所述预设模型环境接收所述待验证芯片的模型运行数据之前，所述方法还包括： 按照预设的组件隶属关系，将所述性能统计组件的指针添加到所述性能统计管理平台预设的组件指针索引中，或者添加到所述性能统计管理平台的下级子平台预设的组件指针索引中； 和或 按照预设的平台隶属关系，将各所述下级子平台的指针添加到对应的上一级子平台预设的子平台指针索引中，或者添加到所述性能统计管理平台预设的子平台指针索引中；其中，所述待验证芯片中的每个相对独立的电路模块对应一个所述下级子平台，用于控制对所述电路模块的性能统计操作；所述性能统计管理平台包括一级或多级所述下级子平台； 各所述组件指针索引以及各所述子平台指针索引，用于将所述验证控制信号发送到对应的性能统计组件中。

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