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龙图腾网获悉中国石油大学(北京)申请的专利电路测试方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114519323B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210017405.0，技术领域涉及：G06F30/343；该发明授权电路测试方法及装置是由朱明达;刘子晨;吴健伟设计研发完成，并于2022-01-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本电路测试方法及装置在说明书摘要公布了：本申请实施例提供一种电路测试方法及装置，该方法包括：对待测试电路进行编译，得到第一编译信息，第一编译信息包括待测试电路对应的多个第一资源位置。对待测试电路对应的参考电路进行编译，得到第二编译信息，第二编译信息包括参考电路对应的多个第二资源位置。根据第一编译信息和第二编译信息，确定待测试电路与参考电路之间的功能差异信息。根据待测试电路对应的目标功能、参考电路对应的参考功能和功能差异信息，确定待测试电路对应的测试结果。其中，仅通过功能仿真验证即可确定待测试电路对应的测试结果。因此，这提高了对待测试电路的验证效率并缩短了验证周期。

本发明授权电路测试方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种电路测试方法，其特征在于，包括： 对待测试电路进行编译，得到第一编译信息，所述第一编译信息包括所述待测试电路对应的多个第一资源位置；所述待测试电路是在参考电路的基础上仅修改了设计参数后得到的HDL功能电路；所述编译包括对HDL代码进行逻辑综合、翻译、映射、布局布线处理和配置文件生成；通过块随机存储器BRAM定义设计参数，相对于原功能电路来说，设计参数的变更后的新功能电路会保留原功能电路中的配置资源，以及电路布线布局未发生改变，仅使RAM中的配置位发生了变化； 对所述待测试电路对应的参考电路进行编译，得到第二编译信息，所述第二编译信息包括所述参考电路对应的多个第二资源位置； 获取电路资源与资源位置之间的对应关系，所述对应关系中包括多个电路资源和每个电路资源对应的资源位置； 根据所述第一编译信息和所述对应关系，确定多个第一电路资源； 根据所述第二编译信息和所述对应关系，确定多个第二电路资源； 根据所述多个第一电路资源和所述多个第二电路资源，确定资源差异信息； 根据所述资源差异信息，确定所述待测试电路与所述参考电路之间的功能差异信息； 根据所述参考电路对应的参考功能和所述功能差异信息，确定所述待测试电路对应的测试功能； 根据所述测试功能和所述待测试电路对应的目标功能，确定对所述待测试电路的测试结果；所述目标功能为对所述参考电路的设计参数进行修改后得到的所述待测试电路的期望功能； 若所述测试功能和所述目标功能相同，确定所述测试结果为测试成功，所述待测试电路的测试功能是所期望达到的功能； 若所述测试功能和所述目标功能不相同，确定所述测试结果为测试失败，待测试电路的测试功能不是所期望达到的功能。

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