上海合见工业软件集团有限公司;成都融见软件科技有限公司唐华兴获国家专利权
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龙图腾网获悉上海合见工业软件集团有限公司;成都融见软件科技有限公司申请的专利一种隐蔽性缺陷的逻辑诊断方法、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121031475B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511579235.5，技术领域涉及：G06F30/30；该发明授权一种隐蔽性缺陷的逻辑诊断方法、电子设备及存储介质是由唐华兴;罗健强;汪东博设计研发完成，并于2025-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种隐蔽性缺陷的逻辑诊断方法、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及电子设计自动化设计技术领域，特别是涉及一种隐蔽性缺陷的逻辑诊断方法、电子设备及存储介质，其通过获取隐蔽性缺陷文件，隐蔽性缺陷文件中包括一个或多个失效位；将隐蔽性缺陷文件按照失效位拆分为N个独立的类失效向量，每个类失效向量仅包括一个失效位；对N个类失效向量进行路径追溯和仿真，得到用于解释每个类失效向量的候选缺陷列表；根据N个类失效向量的候选缺陷列表，获取以最少数量解释所有类失效向量的候选缺陷的最小集合；根据最小集合和通过向量进行故障仿真，并根据故障仿真结果和每个类失效向量的候选缺陷列表计算最小集合中每个候选缺陷评分，生成最终诊断报告，解决了目前无法有效诊断隐蔽性缺陷的技术问题。
本发明授权一种隐蔽性缺陷的逻辑诊断方法、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种隐蔽性缺陷的逻辑诊断方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤： S100，获取隐蔽性缺陷文件，所述隐蔽性缺陷文件中包括一个或多个失效位； S200，将所述隐蔽性缺陷文件按照失效位拆分为N个独立的类失效向量，每个类失效向量仅包括一个失效位，N大于等于1； S300，对N个类失效向量进行路径追溯和仿真，得到用于解释每个类失效向量的候选缺陷列表，所述候选缺陷列表中包括M个候选缺陷，其中M大于等于0； S400，根据N个类失效向量的候选缺陷列表，获取以最少数量解释N个类失效向量的候选缺陷的最小集合； S500，根据所述最小集合和通过向量进行故障仿真，并根据故障仿真结果和每个类失效向量的候选缺陷列表计算所述最小集合中每个候选缺陷评分，生成最终诊断报告。
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