山东大学王正平获国家专利权
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龙图腾网获悉山东大学申请的专利一种低电压测量晶体电光系数的方法与装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121027228B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511564369.X，技术领域涉及：G01N27/00；该发明授权一种低电压测量晶体电光系数的方法与装置是由王正平;黄俊儒;于浩海;赵永光;武奎;任宏凯;刘国伟;孙洵设计研发完成，并于2025-10-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种低电压测量晶体电光系数的方法与装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种低电压测量晶体电光系数的方法与装置，涉及光电系数测量技术领域，其方法包括，采用波长可调谐激光器作为晶体电光系数检测系统的入射光源；在入射光源输入待测激光晶体之前，增加波片作为位相补偿器产生位相延迟φ1，同时待测激光晶体在直流电压的作用下产生位相延迟φ2；当晶体电光系数检测系统为半波电压检测系统时；调整可调谐激光器的波长使3π4≤φ1π；当晶体电光系数检测系统为全波电压检测系统时,调整可调谐激光器的波长使7π4≤φ12π。由于所用光源为波长可调谐激光器，可以通过改变波长来大范围调整φ1，从而改变φ2及测试电压，实现低电压测量晶体电光系数的目的，提高测试安全性。
本发明授权一种低电压测量晶体电光系数的方法与装置在权利要求书中公布了：1.一种低电压测量晶体电光系数的方法，其特征在于，包括以下步骤： 采用波长可调谐激光器作为晶体电光系数检测系统的入射光源； 所述晶体电光系数检测系统为半波电压检测系统或全波电压检测系统，包括，沿光路方向依次设置的波长可调谐激光器1、起偏器2、波片3、待测电光晶体5、检偏器6和功率计7，以及为所述待测电光晶体5施加直流电压的可调直流电源4； 在所述入射光源输入待测激光晶体之前，所述波片3作为位相补偿器以产生位相延迟，同时待测激光晶体在直流电压的作用下产生位相延迟； 当晶体电光系数检测系统为半波电压检测系统时，调整可调谐激光器的波长使3π4≤＜π，以降低施加到待测激光晶体上的直流电压； 当晶体电光系数检测系统为全波电压检测系统时，调整可调谐激光器的波长使7π4≤＜2π，以降低施加到待测激光晶体上的直流电压。
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