奥谱天成(武汉)光电科技有限公司刘鸿飞获国家专利权
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龙图腾网获悉奥谱天成(武汉)光电科技有限公司申请的专利自动光学薄膜厚度扫描测绘仪获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223882933U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520677100.1，技术领域涉及：G01B11/06；该实用新型自动光学薄膜厚度扫描测绘仪是由刘鸿飞;黄晓晓;刘代年设计研发完成，并于2025-04-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本自动光学薄膜厚度扫描测绘仪在说明书摘要公布了：本公开提供了一种自动光学薄膜厚度扫描测绘仪，属于光谱仪器技术领域。该自动光学薄膜厚度扫描测绘仪包括：壳体；测试平台，设于壳体上方，测试平台用于放置待测物品；水平滑轨组件，设于壳体内，水平滑轨组件用于驱动测试平台水平移动；支撑杆，设于壳体上，支撑杆上设置有纵向滑轨组件，纵向滑轨组件上设置有准直镜筒，准直镜筒内安装有光纤，纵向滑轨组件用于驱动准直镜筒纵向移动；其中，水平滑轨组件与纵向滑轨组件用于调节测试平台与准直镜筒之间的相对位置，以调节待测物品的摆放空间。该自动光学薄膜厚度扫描测绘仪实现根据待测物品尺寸调整准直镜筒的高度，方便光学薄膜厚度扫描测绘仪的使用。
本实用新型自动光学薄膜厚度扫描测绘仪在权利要求书中公布了：1.一种自动光学薄膜厚度扫描测绘仪，其特征在于，包括： 壳体1； 测试平台2，设于所述壳体1上方，所述测试平台2用于放置待测物品； 水平滑轨组件3，设于所述壳体1内，所述水平滑轨组件3用于驱动所述测试平台2水平移动； 支撑杆4，设于所述壳体1上，所述支撑杆4上设置有纵向滑轨组件5，所述纵向滑轨组件5上设置有准直镜筒6，所述准直镜筒6内安装有光纤，所述纵向滑轨组件5用于驱动所述准直镜筒6纵向移动； 其中，所述水平滑轨组件3与所述纵向滑轨组件5用于调节所述测试平台2与所述准直镜筒6之间的相对位置，以调节所述待测物品的摆放空间。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人奥谱天成(武汉)光电科技有限公司，其通讯地址为：430299 湖北省武汉市江夏区大桥新区办事处渔牧村通达广场(文化大道111号)17层楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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