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龙图腾网获悉钏澜科技(上海)有限公司申请的专利一种铜互连纳米薄膜的导电性能测试设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223883687U 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520361366.5，技术领域涉及：G01R31/00；该实用新型一种铜互连纳米薄膜的导电性能测试设备是由马有草设计研发完成，并于2025-03-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种铜互连纳米薄膜的导电性能测试设备在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种铜互连纳米薄膜的导电性能测试设备，包括四探针测试仪，所述四探针测试仪前端设有控制面板，所述四探针测试仪顶部设有测试机构，所述测试机构上设有连接机构，所述测试机构包括检测台，所述检测台顶部一侧固定连接有立架，所述立架上固定连接有电动推杆，属于导电性能测试技术领域。该铜互连纳米薄膜的导电性能测试设备，通过将纳米薄膜放置在放置台上，电磁铁通电后对磁铁块产生引力，使得活动底座能够与第二滑座进行同步移动，然后第一电机和第二电机对纳米薄膜进行移动，使得能够对纳米薄膜上的多个位置进行导电性能测试，且方便对纳米薄膜进行更换，扩大测试范围，有效提高测试效果。

本实用新型一种铜互连纳米薄膜的导电性能测试设备在权利要求书中公布了：1.一种铜互连纳米薄膜的导电性能测试设备，包括四探针测试仪1，其特征在于：所述四探针测试仪1前端设有控制面板3，所述四探针测试仪1顶部设有测试机构2，所述测试机构2上设有连接机构4； 所述测试机构2包括检测台201，所述检测台201顶部一侧固定连接有立架202，所述立架202上固定连接有电动推杆203，所述电动推杆203的输出轴端部安装有四探针探头204，所述检测台201上放置有活动底座205，所述活动底座205上设有插槽207，所述活动底座205底部安装有多个万向轮206，所述活动底座205底部中央处固定连接有磁铁块208，所述活动底座205顶部插接有放置台209，所述检测台201内部固定连接有导向滑轨210，所述导向滑轨210上滑动连接有第一滑座211，所述第一滑座211内部螺纹连接有第一螺杆212，所述第一螺杆212端部固定连接有第一电机213，所述第一滑座211顶部固定连接有导向架214，所述导向架214内部转动连接有第二螺杆215，所述第二螺杆215端部固定连接有第二电机216，所述第二螺杆215上螺纹连接有第二滑座217，所述第二滑座217上固定连接有电磁铁218。

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