深圳创维-RGB电子有限公司洪伟忠获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳创维-RGB电子有限公司申请的专利EMMC损耗度检测方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114420190B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210073136.X,技术领域涉及:G11C29/08;该发明授权EMMC损耗度检测方法、装置、电子设备及存储介质是由洪伟忠;姚文兴;陈敏;黄健;林晓宁;徐正新;王德闯;卢铁军设计研发完成,并于2022-01-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本EMMC损耗度检测方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了:本申请公开了EMMC损耗度检测方法、装置、电子设备及存储介质,所述EMMC损耗度检测方法包括:当检测到主EMMC满足预设检测条件时,在所述主EMMC对应的存储空间中选取空闲存储区域;通过将副EMMC中的损耗度检测数据存储至所述空闲存储区域,检测所述主EMMC对应的写入性能参数;通过所述副EMMC读取已存储至所述空闲存储区域的损耗度检测数据,检测所述主EMMC的读取性能参数;依据所述写入性能参数和所述读取性能参数,确定所述主EMMC的损耗度。本申请解决了现有技术中检测EMMC损耗度准确率低的技术问题。
本发明授权EMMC损耗度检测方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种EMMC损耗度检测方法,其特征在于,所述EMMC损耗度检测方法包括: 当检测到主EMMC满足预设检测条件时,在所述主EMMC对应的存储空间中选取空闲存储区域; 通过将副EMMC中的损耗度检测数据存储至所述空闲存储区域,检测所述主EMMC对应的写入性能参数; 通过所述副EMMC读取已存储至所述空闲存储区域的损耗度检测数据,检测所述主EMMC的读取性能参数; 依据所述写入性能参数和所述读取性能参数,确定所述主EMMC的损耗度; 其中,在所述检测到主EMMC满足预设检测条件的步骤之后,所述方法还包括: 判断所述主EMMC对应的存储空间中是否存在上一检测周期的预留检测数据; 若存在,则通过比对所述预留检测数据和所述损耗度检测数据的相似度,确定所述主EMMC的损耗状态; 其中,所述损耗状态包括第一损耗状态和第二损耗状态,所述通过比对所述预留检测数据和所述损耗度检测数据的相似度,确定所述主EMMC的损耗状态的步骤包括: 通过比对所述预留检测数据和所述损耗度检测数据的相似度,确定所述主EMMC的误码率; 判断所述误码率是否小于误码率阈值; 若是,则判定所述主EMMC处于所述第一损耗状态; 若否,则判定所述主EMMC处于所述第二损耗状态,所述第一损耗状态为严重损耗状态,所述第二损耗状态为轻微损耗状态,所述严重损耗状态和所述轻微损耗状态由所述误码率阈值界定。
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