乐金显示光电科技(中国)有限公司梁耀松获国家专利权
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龙图腾网获悉乐金显示光电科技(中国)有限公司申请的专利阵列基板的检测方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115131331B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210835775.5，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权阵列基板的检测方法、装置、设备及存储介质是由梁耀松设计研发完成，并于2022-07-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本阵列基板的检测方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开一种阵列基板的检测方法、装置、设备及存储介质，该方法包括基于近红外图像采集器获取阵列基板中待检测区域的检测图像；将检测图像中每一像素点周围预设范围内的其它各像素点的灰度值的平均值与该像素点的灰度值之间的差值确定为该像素点对应的灰度差值；判断像素点对应的灰度差值是否在预设差值范围内；若否，则将像素点所在位置确定为缺陷位置。通过近红外图像采集器获取检测图像，能够使得所获取的检测图像具有较高的清晰度和准确度，同时，基于具有较高清晰度和准确度的检测图像所确定的缺陷位置更加准确，以便于能够准确的对阵列基板进行定点修复，提高阵列基板的生产良率和效率。
本发明授权阵列基板的检测方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种阵列基板的检测方法，其特征在于，包括： 确定所述阵列基板中的待检测区域；所述待检测区域为所述阵列基板中可能存在不良的区域；所述阵列基板包括多条信号线和多个像素电路；各所述信号线沿第一方向延伸且沿第二方向排列；所述第一方向与所述第二方向相交；位于同一列的至少部分所述像素电路与同一所述信号线电连接；其中，确定所述阵列基板中的待检测区域包括：采用向所述信号线提供电信号的方式确定出所述可能存在不良的区域，或者，采用向各所述像素电路提供驱动信号，并获取各所述像素电路对应的控制区域透过的光信号的方式确定出所述可能存在不良的区域； 基于近红外图像采集器获取所述阵列基板中待检测区域的检测图像； 将所述检测图像中每一像素点周围预设范围内的其它各像素点的灰度值的平均值与该所述像素点的灰度值之间的差值确定为该所述像素点对应的灰度差值； 判断所述像素点对应的所述灰度差值是否在预设差值范围内； 若否，则将所述像素点所在位置确定为缺陷位置。
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