索尼半导体解决方案公司青竹峻太郎获国家专利权
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龙图腾网获悉索尼半导体解决方案公司申请的专利距离测量处理装置、距离测量模块和距离测量处理方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN110412599B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:201910250186.9,技术领域涉及:G01S17/08;该发明授权距离测量处理装置、距离测量模块和距离测量处理方法是由青竹峻太郎;増野智経;神谷拓郎设计研发完成,并于2019-03-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本距离测量处理装置、距离测量模块和距离测量处理方法在说明书摘要公布了:本发明涉及距离测量处理装置、距离测量模块、距离测量处理方法和存储有计算机程序的计算机可读介质。距离测量处理装置包括:校正参数计算部,其利用预定数目的检测信号计算用于校正第一阀门和第二阀门之间特性偏差的校正参数,针对具有预定相位差的两种以上的照射光中的每一种各自检测两个所述检测信号,两种以上的所述照射光照射在物体上,并且,通过接收的被所述物体反射的反射光产生的电荷根据到所述物体的距离而被分成所述第一阀门和所述第二阀门;距离测量部,其基于所述校正参数和预定数目的所述检测信号获得表示到所述物体的距离的深度。本发明能实现更高性能的距离测量处理装置、距离测量模块、距离测量处理方法和计算机可读介质。
本发明授权距离测量处理装置、距离测量模块和距离测量处理方法在权利要求书中公布了:1.一种距离测量处理装置,其包括: 校正参数计算部,其利用预定数目的检测信号计算用于校正第一阀门和第二阀门之间特性偏差的校正参数,针对具有预定相位差的两种以上的照射光中的每一种各自检测两个所述检测信号,两种以上的所述照射光照射在物体上,并且,通过接收的被所述物体反射的反射光产生的电荷根据到所述物体的距离而被分成所述第一阀门和所述第二阀门;以及距离测量部,其基于所述校正参数和预定数目的所述检测信号获得表示到所述物体的距离的深度,其中,对于在两种所述照射光中接收具有第一相位的所述照射光的所述反射光的第一检测时段以及接收具有第二相位的所述照射光的所述反射光的第二检测时段,在所述第一检测时段中,多个电荷交替地分成所述第一阀门和所述第二阀门,检测基于分成所述第一阀门且累积在所述第一阀门中的电荷的第一检测信号以及基于分成所述第二阀门且累积在所述第二阀门中的电荷的第二检测信号,并且,在所述第二检测时段中,多个电荷交替地分成所述第一阀门和所述第二阀门,检测基于分成所述第一阀门且累积在所述第一阀门中的电荷的第三检测信号以及基于分成所述第二阀门且累积在所述第二阀门中的电荷的第四检测信号。
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