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龙图腾网获悉松下知识产权经营株式会社申请的专利OCT测量装置以及OCT测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113758412B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110596903.0，技术领域涉及：G01B9/02091；该发明授权OCT测量装置以及OCT测量方法是由武智洋平;横山润设计研发完成，并于2021-05-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本OCT测量装置以及OCT测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种OCT测量装置以及OCT测量方法。OCT测量装置1具备：波长扫描光源2，发出波长被扫描的光；光干涉仪9，将光分割为测定光18和参照光19，生成表示将测定光18向被测定物20的被测定面21照射并由被测定面21反射的测定光18与参照光19的干涉的强度的光干涉强度信号；相位调制部17，被配置于光干涉仪9的光路中；信号生成部3，基于光干涉强度信号，导出被测定面21的位置，并且生成指示相位调制部17的相位量的相位量指示信号；和相位量控制部6，基于相位量指示信号，控制对透射相位调制部17的光赋予的相位量。

本发明授权OCT测量装置以及OCT测量方法在权利要求书中公布了：1.一种OCT测量装置，具备： 波长扫描光源，发出波长被扫描的光； 光干涉仪，将所述光分割为测定光和参照光，生成表示将所述测定光向被测定物的被测定面照射并由所述被测定面反射的所述测定光与所述参照光的干涉的强度的光干涉强度信号； 相位调制部，被配置于所述光干涉仪的光路中； 信号生成部，基于所述光干涉强度信号，导出所述被测定面的位置，并且生成对所述相位调制部的相位量进行指示的相位量指示信号；和相位量控制部，基于所述相位量指示信号，控制对透射所述相位调制部的光赋予的相位量，所述信号生成部基于该光干涉强度信号，计算表示从发出波长被扫描的光的波长扫描光源发出的光的波数中的瞬间相位值的瞬时相位变化数据，计算在所述瞬时相位变化数据的前端数据中的前端部波数与所述瞬时相位变化数据的末尾数据中的末尾部波数的区间，从所述前端数据的瞬时相位值到所述末尾数据的瞬时相位值线性地变化的线性瞬时相位变化数据，通过获取所述瞬时相位变化数据与所述线性瞬时相位变化数据的差分，计算相位补偿数据，所述相位量控制部基于所述相位补偿数据、所述相位调制部以及控制对透射所述相位调制部的光赋予的相位量的相位量控制部中被设定的控制相位调制量的相位调制控制系数，计算补偿电压控制信号。

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