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龙图腾网获悉中国市政工程东北设计研究总院有限公司申请的专利一种石墨炉原子吸收法的基体效应的校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114660007B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210415625.9，技术领域涉及：G01N21/31；该发明授权一种石墨炉原子吸收法的基体效应的校正方法是由胡莹;关鹤达;王琪;杜志威;李太宇;潘姝;张溶;赵丹丹设计研发完成，并于2022-04-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种石墨炉原子吸收法的基体效应的校正方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种石墨炉原子吸收法的基体效应的校正方法，包括：按照预设升温程序检查标准曲线最高浓度值的吸光度‑时间实时信号；若所述吸光度‑实时信号不理想则利用待测样品优化升温程序，得到优化后的升温程序；按照优化后的升温程序检测标准曲线上浓度点对应的吸光度，得到标准曲线；对标准曲线进行检验；采用标准曲线法检测待测样品，利用平行样进行校正并检验是否存在基体效应的干扰。在本发明中，基体效应产生的分子吸收干扰和光散射干扰现象在石墨炉原子吸收光谱仪实时信号中可以部分显示，可以通过优化石墨炉升温程序或者结合稀释富集程序和平行样检测的方法进行校正消除。

本发明授权一种石墨炉原子吸收法的基体效应的校正方法在权利要求书中公布了：1.一种石墨炉原子吸收法的基体效应的校正方法，包括： 按照预设升温程序检查标准曲线最高浓度值的吸光度‑时间实时信号； 若所述吸光度‑实时信号不理想，则利用待测样品的吸光度‑时间实时信号优化升温程序，得到优化后的升温程序； 按照优化后的升温程序检测标准曲线上浓度点对应的吸光度，得到标准曲线； 对标准曲线进行检验； 采用标准曲线法检测待测样品，利用平行样校正并检验是否存在基体效应的干扰； 利用平行样校正并检验是否存在基体效应的干扰的方法包括： 按照优化后的升温程序检测待测样品的浓度为C1： 若1倍测定下限≤C1＜2倍测定下限，对平行样加标处理得到C2溶液，加标倍数不低于1.25倍，不超过3倍，加标倍数为J加标；如果C1＝85～115％1J加标×C2，则视为原子化期间没有干扰； 若2倍测定下限≤C1＜3倍测定下限，对平行样加标或稀释处理得到C2溶液，加标倍数为J加标，稀释倍数为N检测稀释，加标或稀释的C2溶液同时满足：2倍测定下限≤C2＜4倍测定下限；如果C1＝90～110％N检测稀释或1J加标×C2，则视为原子化期间没有干扰； 若3倍测定下限≤C1＜标准曲线次高点浓度，对平行样稀释处理得到C2，稀释倍数为N检测稀释，2倍测定下限≤C2；如果C1＝95～105％N检测稀释×C2，则视为原子化期间没有干扰； 若标准曲线次高点浓度≤C1，对平行样两次稀释处理得到溶液CC1和CC2，CC1浓度＞CC2浓度，稀释倍数分别为：N检测稀释1和N检测稀释2；同时满足：3倍测定下限≤CC1＜标准曲线次高点浓度，3倍测定下限≤CC2＜标准曲线次高点浓度；如果N检测稀释1CC1＝95～105％N检测稀释2×CC2，则视为原子化期间没有干扰； 若检出限≤C1＜测定下限，对平行样加标或稀释处理得到C2溶液，加标倍数不低于1.25倍，不超过3倍，加标倍数为J加标；稀释倍数不低于1.25倍，不超过2倍，稀释倍数为N检测稀释；稀释得到C2溶液浓度应不小于检出限；如果C1＝75～125％1J加标×C2，则视为原子化期间没有干扰； 若C1＜检出限，且优化升温程序时没有执行稀释，判断原子化是否存在干扰：若测定C1溶液7次，t单侧检验7次，0.95×S7次C1溶液测定浓度值≤MDL检出限，则视为无原子化干扰； 若C1＜检出限，且校正升温程序时执行稀释，1＜N升温稀释≤10，执行富集程序直至富集后浓度大于检出限，富集倍数记为F富集，1＜F富集≤10，C试样最终测定结果＝N升温稀释×1F富集×C1；富集倍数如果超过10倍还未大于检出限，停止富集，试样检测结果为未检出；判断原子化是否存在干扰：若测定未富集前C1溶液7次，t单侧检验7次，0.95×S7次未富集前C1溶液测定浓度值≤MDL检出限；同时富集两次，为CC1和CC2，如果CC1＝70～130％CC2；满足以上两条，则视为无原子化干扰。

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