瑞昱半导体股份有限公司陈衍彬获国家专利权
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龙图腾网获悉瑞昱半导体股份有限公司申请的专利内嵌式存储器系统与存储器测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114743584B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110018675.9，技术领域涉及：G11C29/10；该发明授权内嵌式存储器系统与存储器测试方法是由陈衍彬设计研发完成，并于2021-01-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本内嵌式存储器系统与存储器测试方法在说明书摘要公布了：内嵌式存储器系统包括内嵌式存储器电路以及主控端电路。内嵌式存储器电路用以存储查找表。主控端电路用以利用具有多个相位的一测试时钟信号以及内嵌式存储器电路的一程序的多个指令对内嵌式存储器电路进行测试，并记录所述指令中每一个与所述相位之间的一对应关系，以产生查找表。
本发明授权内嵌式存储器系统与存储器测试方法在权利要求书中公布了：1.一种内嵌式存储器系统，包括： 一内嵌式存储器电路，用以存储一查找表；以及一主控端电路，用以利用具有多个相位的一测试时钟信号以及所述内嵌式存储器电路的一程序的多个指令对所述内嵌式存储器电路进行测试，并记录所述指令中每一个与所述相位之间的一对应关系，以产生所述查找表，其中所述程序为一启动程序，所述启动程序为通过所述内嵌式存储器电路运行的一内核或一操作系统在开机时所执行的程序。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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